[发明专利]一种具有高平均束流和单脉冲束流的小型化X射线仪在审
| 申请号： | 201611117442.X | 申请日： | 2016-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN106793433A | 公开（公告）日： | 2017-05-31 |
| 发明（设计）人： | 樊仲维;庾韬颖;张鸿博;麻永俊;连富强;白振岙;刘学松;康治军;王江 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电研究院;中科和光（天津）应用激光技术研究所有限公司 |
| 主分类号： | H05G1/08 | 分类号： | H05G1/08;H05G1/02 |
| 代理公司： | 北京风雅颂专利代理有限公司11403 | 代理人： | 李莎,李弘 |
| 地址： | 100094 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种具有高平均束流和单脉冲束流的小型化X射线仪，包括电子束流产生系统，所述电子束流产生系统用于产生并输出高能电子束团；激光发生系统，所述激光发生装置用于输出ps激光或fs激光；电子束流与激光碰撞系统，所述电子束流与激光碰撞系统用于测量激光与高能电子束、使激光与高能电子束对准和同步，以及回收残余电子以及激光；X射线引出系统，所述X射线引出系统用于对碰撞产生的X射线进行聚焦、单色、限光和检测。本发明实施例的小型化X射线仪，在满足小型化的同时，使得X射线满足高亮度、高品质、准单色和高光子通量，同时能够输出高平均束流和单脉冲束流。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 具有 平均 脉冲 小型化 射线 | ||
【主权项】：
一种具有高平均束流和单脉冲束流的小型化X射线仪，其特征在于，包括：电子束流产生系统，所述电子束流产生系统用于产生并输出高能电子束团；激光发生系统，所述激光发生装置用于输出ps激光或fs激光，电子束流与激光碰撞系统，所述电子束流与激光碰撞系统用于测量激光与高能电子束、使激光与高能电子束对准和同步，以及回收残余电子以及激光；X射线引出系统，所述X射线引出系统用于对碰撞产生的X射线进行聚焦、单色、限光和检测。
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