[发明专利]一种射频集成电路测试设备

摘要

本发明涉及测试设备,具体涉及射频集成电路测试设备。一种射频集成电路测试设备，包括上位机、交换机、PXI机箱和接口系统、测试仪器及器件安装台，所述上位机中设置有中央处理器模块、接口模块、电路功能设置模块和参数测试模块；接口模块用于和接口系统连接；电路功能设置模块用于对测试系统的工作模式进行设置和选择；参数测试模块用于对测试参数进行选择，对测试参数进行对应的功能函数设置；测试仪器通过器件安装台读取待测射频集成电路的数据，输出到上位机。本发明所述的射频集成电路测试设备的有益效果是：本发明兼容多种接口、多种协议，可实现多功能、多项目的复用，由于设置有传输线校准模块，保证了测试精度。 1

主权项

1.一种射频集成电路测试设备，包括上位机（1）、交换机（2）、PXI机箱（3）和接口系统（4）、测试仪器（5）、器件安装台（6）及中央处理器（7），其特征在于：所述上位机（1）中设置有中央处理器模块（11）、接口模块（12）、电路功能设置模块（13）和参数测试模块（15）；接口模块（12）用于和接口系统（4）连接；电路功能设置模块（13）用于对测试系统的工作模式进行设置和选择；参数测试模块（15）用于对测试参数进行选择，对测试参数进行对应的功能函数设置；提供自动化测试的函数调用；对测试仪器（5）进行读写控制；对测试结果进行合格与否的判断并进行指示；所述上位机（1）、交换机（2）、PXI机箱（3）通过接口系统（4）连接；待测射频集成电路安装在器件安装台（6）上，待测射频集成电路通过器件安装台（6）和接口系统（2）与上位机（1）进行通讯，并且，待测射频集成电路通过器件安装台（6）输出信号到测试仪器（5）或者接收测试仪器（5）输出的信号；测试仪器（5）接收上位机（1）的参数测试模块输出的信号，通过器件安装台（6）读取待测射频集成电路的数据，输出到上位机（1）。

2.根据权利要求1 所述的射频集成电路测试设备，其特征在于：电路功能设置模块（13）还用于对有寄存器操作的待测射频集成电路进行寄存器的读写控制；并把数据传输到中央处理器模块（7）与器件安装台（6）对应的总线接口读取，进行处理后通过接口系统（4）发送至上位机（1）。

3.根据权利要求1 或2 所述的射频集成电路测试设备，其特征在于：所述接口模块（12）包括串口模块（121）和并口模块（122），所述并口模块（122）通过转换电路和器件安装台（6）对待测射频集成电路进行读写控制；所述转换电路将上位机（1）的并口模块（122）输出的电平信号进行转换后通过器件安装台（6）输出到待测射频集成电路；并且将待测射频集成电路通过器件安装台（6）输出的数据进行转换后输出到上位机（1）。

4.根据权利要求3 所述的射频集成电路测试设备，其特征在于：所述上位机（1）中还设置有传输线校准模块（14）；传输线校准模块（14）用于对射频端口使用的测试电缆进行校准，对校准数据进行存储，并提供校准数据给参数测试模块（15）。

5.根据权利要求1 所述的射频集成电路测试设备，其特征在于：所述器件安装台（6）包括有供电连接器（61），所述供电连接器（61）包括供电输入连接器、供电输出连接器和供电控制连接器。

6.根据权利要求1 所述的射频集成电路测试设备，其特征在于：所述器件安装台（6）还包括有紧急停止按钮。

7.根据权利要求1 所述的射频集成电路测试设备，其特征在于：所述接口系统（4）包括 LAN、RS485、MXI‑4。