[发明专利]一种低流度油藏物理约束试井解释方法及装置有效

专利信息
申请号: 201611086464.4 申请日: 2016-12-01
公开(公告)号: CN106600439B 公开(公告)日: 2020-01-10
发明(设计)人: 第五鹏祥;姚峰;邓博;张贤松;郭文敏;刘睿;刘同敬;刘金菊;周建;成杰 申请(专利权)人: 中国石油大学(北京)
主分类号: G06Q50/02 分类号: G06Q50/02
代理公司: 11127 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 汤在彦;李秀芸
地址: 102249*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种低流度油藏物理约束试井解释方法及装置,方法包括:根据渗流力学物理原理,建立表皮因子和渗透率的约束关系,利用所述约束关系,确定表皮因子合理下限;在满足所述表皮因子合理下限的情况下,根据物理约束试井解释方法确定井储系数、表皮因子、内区渗透率、内区半径和外区渗透率;根据改进的Dietz方法,利用所述表皮因子、所述内区渗透率、所述内区半径和所述外区渗透率计算考虑启动压力梯度的探测半径内的平均地层压力;利用所述井储系数计算近井水体储集等效体积。本发明考虑了低速非达西渗流的特征和试井解释参数之间的关联,建立了针对低流度油藏“早期测试”特征的试井解释方法,有利于低流度储层试井技术的推广和应用。
搜索关键词: 一种 低流度 油藏 物理 约束 解释 方法 装置
【主权项】:
1.一种低流度油藏物理约束试井解释方法,其特征在于,包括:/n根据渗流力学物理原理,建立表皮因子和渗透率的约束关系,利用所述约束关系,确定表皮因子合理下限;/n在满足所述表皮因子合理下限的情况下,根据物理约束试井解释方法确定井储系数、表皮因子、内区渗透率、内区半径和外区渗透率;/n根据改进的Dietz方法,利用所述表皮因子、所述内区渗透率、所述内区半径和所述外区渗透率计算考虑启动压力梯度的探测半径内的平均地层压力;/n利用所述井储系数计算近井水体储集等效体积;/n其中,所述表皮因子和渗透率的约束关系的表达式为:/n
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