[发明专利]成像仪不同焦面谱段配准精度测试方法有效
| 申请号： | 201611039350.4 | 申请日： | 2016-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN106768391B | 公开（公告）日： | 2019-01-18 |
| 发明（设计）人： | 何军;杨勇;代海山;孙允珠;蒋光伟;李云端;叶擎昊 | 申请（专利权）人： | 上海卫星工程研究所 |
| 主分类号： | G01J5/52 | 分类号： | G01J5/52;G01J3/28 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 郭国中 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种成像仪不同焦面谱段配准精度测试方法，包括以下步骤：步骤一，将待测成像仪放置在精密转台上；步骤二，成像仪、光源及地面设备加电，调整光源、靶标及平行光管的中心与待测成像仪的光轴重合，确保靶标可成像在探测器上；步骤三，调整精密转台平面与探测器空间维平行；步骤四，调整精密转台，使靶标成像于第一谱段的某一像元，获得最大像元输出值并记录转台角度；步骤五，按照谱段维方向调整精密转台，使靶标成像于另一探测器焦面第二谱段的像元上，获得最大像元输出值并记录转台角度。本发明满足成像仪不同谱段图像融合质量的要求。 | ||
| 搜索关键词： | 成像仪 靶标 成像 精密转台 探测器 焦面 精度测试 最大像元 转台 配准 像元 光源 地面设备 方向调整 光轴重合 平行光管 图像融合 输出 空间维 记录 加电 精密 平行 | ||
【主权项】：
1.一种成像仪不同焦面谱段配准精度测试方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一，将待测成像仪放置在精密转台上；步骤二，成像仪、光源及地面设备加电，调整光源、靶标及平行光管的中心与待测成像仪的光轴重合，确保靶标可成像在探测器上；步骤三，调整精密转台平面与探测器空间维平行；步骤四，调整精密转台，使靶标成像于第一谱段的某一像元，获得最大像元输出值并记录转台角度；步骤五，按照谱段维方向调整精密转台，使靶标成像于另一探测器焦面第二谱段的像元上，获得最大像元输出值并记录转台角度；步骤六，根据步骤四和步骤五获得的两次转台角度计算第一谱段与第二谱段间的配准精度；步骤七，其他谱段间的配准精度按照步骤一至步骤六测试；或者工艺保证同一焦面谱段间的配准精度，通过每两个不同焦面间某一谱段间的配准精度，获得所有谱段间的配准精度。
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