[发明专利]用于传感器数据校准的方法和装置

摘要

本发明提供一种用于传感器数据校准的方法和装置。本发明用于对改变中的磁环境中的传感器数据进行校准。本发明通过比较由传感器数据生成的不同数据组之间的差来检测磁环境改变，并且选择针对当前磁环境的某些传感器数据来计算用于传感器数据校准的校准参数。与现有技术相比，能够使传感器数据校准更为准确，尤其是当设备处于包括一些磁扰动的环境中时。

主权项

1.一种用于传感器数据校准的方法，所述方法包括：传感器数据获得步骤，用于获得来自磁力计的传感器数据；磁环境改变检测步骤，用于通过比较由传感器数据生成的至少两个数据组之间的差，来检测磁环境改变；传感器数据选择步骤，用于基于磁环境改变检测，选择针对当前磁环境的传感器数据；校准参数计算步骤，用于基于所选择的针对当前磁环境的传感器数据，计算校准参数；传感器数据校准步骤，用于利用校准参数对所选择的传感器数据进行校准。