[发明专利]晶硅柔性电池及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201610874534.6 申请日: 2016-09-30
公开(公告)号: CN106409922B 公开(公告)日: 2018-05-18
发明(设计)人: 朱奕漪;刘良玉;谢于柳 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十八研究所
主分类号: H01L31/0216 分类号: H01L31/0216;H01L31/048;H01L31/18
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 代理人: 周长清;黄丽
地址: 410111 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种晶硅柔性电池及其制备方法。该晶硅柔性电池包括封装膜和设于封装膜内的电池组件,电池组件由下至上依次由铝背电极层、单晶硅基底层、圆柱形硅阵列结构层、PN结层、SiNx钝化层和ITO薄膜层组成。制备方法包括(1)化学刻蚀:(2)扩散制PN结:(3)制备SiNx钝化层;(4)镀ITO薄膜层:(5)刻蚀硅背面;(6)镀铝背电极:(7)封装。本发明制备的晶硅柔性电池具有良好的陷光结构和大光吸收角,光生载流子吸收长度短,光吸收效率高,光电转化效率高,且弯折性能优异。
搜索关键词: 柔性 电池 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种晶硅柔性电池,其特征在于,所述晶硅柔性电池包括封装膜和设于封装膜内的电池组件,所述电池组件由下至上依次由铝背电极层、单晶硅基底层、圆柱形硅阵列结构层、PN结层、SiNx钝化层和ITO薄膜层组成;所述圆柱形硅阵列结构层的阵列单元的直径为1μm~2μm,阵列单元的高为2μm~4μm,相邻阵列单元之间的中心间距为3μm~8μm;所述PN结层的结深为0.2μm~0.42μm;所述SiNx钝化层中,Si与N的原子比在0.743与1.014之间,所述SiNx钝化层的厚度为50nm~80nm;所述单晶硅基底层的厚度为20μm~100μm。
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