[发明专利]满足泊松分布的计点值工序能力指数评价方法在审

专利信息
申请号: 201610850134.1 申请日: 2016-09-26
公开(公告)号: CN106485401A 公开(公告)日: 2017-03-08
发明(设计)人: 游海龙;贾新章;顾铠;田文星;张金力 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06
代理公司: 陕西电子工业专利中心61205 代理人: 田文英,王品华
地址: 710071 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种满足泊松分布的计点值工序能力指数评价方法。其具体步骤包括1.采集样本;2.计算泊松分布的累计概率;3.计算工序能力指数;4.判断计点值工序能力指数是否满足要求;5.继续生产;6.检查工序能力不足的原因。本发明具有结果正确、更适用实际生产,且所得工序能力指数CPU与相应工艺成品率的对应关系和计量值工序能力指数与相应工艺成品率的对应关系完全相同,不同工序之间只要对比工序能力指数的大小就直接说明工艺成品率的高低,将计量值和计点值工序能力指数统一量化的优点。
搜索关键词: 满足 分布 计点值 工序 能力 指数 评价 方法
【主权项】:
一种满足泊松分布的计点值工序能力指数评价方法,包括步骤如下:(1)采集样本:(1a)连续采集生产过程中缺陷数表征工艺水平的工序上的m批样本,测量每批样本中的缺陷数,记录在表格中;(1b)计算m批样本缺陷数的平均值,将该平均值作为描述采集m批样本对应工序缺陷数的泊松分布参数的估计值;(2)按照下式,计算采集m批样本对应工序缺陷数小于等于上规范的泊松分布的累计概率:F=Σx=0(TH)e-λλxx!]]>其中,F表示工序缺陷数小于等于上规范的泊松分布累计概率,TH表示上规范,∑表示求和操作,x表示缺陷数,e表示指数符号,λ表示采集m批样本对应工序缺陷数的泊松分布参数的估计值,!表示求阶乘操作;(3)计算工序能力指数:(3a)按照设计水平计算公式,计算采集m批样本对应工序的工序缺陷数服从的泊松分布累计概率所对应的设计水平值;(3b)按照工序能力指数计算公式,计算采集m批样本对应工序的计点值工序能力指数;(4)判断计点值工序能力指数是否大于等于该工序的质量要求规定值,若是,则执行步骤(5),否则,执行步骤(6);(5)采集m批样本对应的工序可以继续进行生产加工;(6)检查采集m批样本对应的工序能力不足的原因。
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