[发明专利]存储设备和用于该存储设备的缺陷扫描的方法有效
| 申请号： | 201610791131.5 | 申请日： | 2016-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN106560893B | 公开（公告）日： | 2019-06-07 |
| 发明（设计）人： | 川井康正 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18;G11B19/04 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 刘薇;李峥 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 执行一种缺陷扫描方法以检测存储设备的存储介质中的缺陷部分，存储介质包括多个存储区，多个存储区包括第一存储区和第二存储区。该缺陷扫描方法包括：在存储设备连接到主机前，扫描存储介质的一部分存储区以检测其中的缺陷部分，所扫描的存储区包括第一存储区，未扫描的存储区包括第二存储区；将逻辑地址映射到第一存储区的非缺陷部分的物理地址；在存储设备连接到主机后，扫描第二存储区以检测其中的缺陷部分，并将逻辑地址映射到第二存储区的非缺陷部分的物理地址。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 设备 用于 缺陷 扫描 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测存储设备的存储介质中的缺陷部分的方法，所述存储介质包括多个存储区，所述多个存储区包括第一存储区和第二存储区，所述方法包括：在所述存储设备连接到主机之前，扫描所述存储介质的一部分所述存储区以检测其中的缺陷部分，所扫描的存储区包括所述第一存储区，未扫描的存储区包括所述第二存储区；将逻辑地址映射到所述第一存储区的非缺陷部分的物理地址；在所述存储设备连接到主机之后，扫描所述第二存储区以检测其中的缺陷部分；以及将逻辑地址映射到所述第二存储区的非缺陷部分的物理地址，其中所述第一存储区的范围从所述存储介质的最小物理地址到第一预定物理地址连续，并且从第二预定物理地址到最大物理地址连续，其中，所述第二预定物理地址比所述第一预定物理地址大。
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