[发明专利]利用岩屑X射线荧光光谱特征进行分层卡层的方法在审
| 申请号： | 201610774311.2 | 申请日： | 2016-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN106124545A | 公开（公告）日： | 2016-11-16 |
| 发明（设计）人： | 李立;杨廷红;罗谋兵;魏建强 | 申请（专利权）人： | 中国石油集团川庆钻探工程有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01V5/04 |
| 代理公司： | 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 | 代理人： | 冉鹏程 |
| 地址： | 610051 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种利用岩屑X射线荧光光谱特征进行分层卡层的方法，其步骤如下：a、熟悉工区区域地层特征和地层划分标准；b、确定分层卡层的标志层或辅助标志层；c、确定不同岩性的特征元素；d、建立工区内XRF剖面模型；e、利用岩屑XRF谱图特征进行岩性的层位归位；f、根据所分析井段岩屑XRF数据绘制岩屑XRF剖面图；g、利用不同岩性特征元素曲线特征法、曲线交会法、元素比值法、特征元素法进行层位划分。本方法克服了钻井新工艺、新技术对现有岩性识别技术的限制和钻井液材料的影响，能客观准确反映地层岩性变化特征，实现了岩性解释微观化和定量化。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 岩屑 射线 荧光 光谱 特征 进行 分层 方法 | ||
【主权项】：
一种利用岩屑X射线荧光光谱特征进行分层卡层的方法，其特征在于步骤如下：a、熟悉工区区域地层特征和地层划分标准；b、确定分层卡层的标志层或辅助标志层；c、确定不同岩性的特征元素；d、建立工区内XRF剖面模型；e、利用岩屑XRF谱图特征进行岩性的层位归位；f、根据所分析井段岩屑XRF数据绘制岩屑XRF剖面图；g、利用不同岩性特征元素曲线特征法、曲线交会法、元素比值法、特征元素法进行层位划分。
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