[发明专利]一种平面近场暗室散射的测试与补偿方法

摘要

一种平面近场暗室散射的测试与补偿方法，本发明采用一种T型导轨，通过对扫描面区域内暗室散射的检测，得到该扫描区域的暗室散射场分布。利用算法补偿该区域内天线测试由于暗室散射带来的影响。本发明与传统暗室散射测试方法相比较，更好的检测指定区域内暗室散射分布情况，并且利用算法补偿暗室散射对于天线测试的影响。

主权项

1.一种平面近场暗室散射的测试与补偿方法，其特征在于步骤如下：(1)测试天线采用标准喇叭，目标天线采用开口波导，分别安装于T型导轨上与扫描架探头安装位置；T型导轨放置在需要进行平面近场暗室散射测试的区域内；(2)目标天线从扫描架零位开始移动，在二维平面内，利用激光跟踪仪每隔一定间距测量一次目标天线的中心三维坐标值，通过平面最小二乘拟合，建立扫描架标定坐标系；(3)测试天线从T型导轨的零位出发，移动一个间距后，利用激光跟踪仪测量天线中心的三维坐标值，当测量位置数大于等于3时，即可解算得到测试天线的轨迹方程；(4)计算测试天线轨迹方程与扫描架标定坐标系X轴或Y轴、XOY平面的夹角，调整T型导位置与姿态，使得测试天线与X轴平行且与XOY面平行，此状态即为测试天线的初始状态；(5)测试天线从T型导轨的零位出发，每移动间距Δ后(保证Δ接近0.25个波长，Δ由激光跟踪仪测量得到),测量测试天线中心，计算测试天线中心和目标天线中心的坐标差值ΔX、ΔY，将该值反馈给扫描架后，扫描架驱动目标天线运动到与测试天线中心重合的位置，利用平面近场固有的数据采集系统进行幅度相位的采集，然后继续移动目标天线，直到T型导轨末端，完成所有位置的幅度相位的采集；(6)将T型导轨沿垂直与导轨方向移动0.25个波长，重复步骤(5)测试，直至将整个需要测试的暗室散射区域面积内所有位置的幅度相位全部采集完毕，采集到的数据矩阵记为ΔB′；(7)将测试天线旋转90度，同时目标天线旋转90度，重复步骤(5)与步骤(6)，采集到的数据矩阵记为ΔB″；(8)通过修正算法利用步骤(6)和步骤(7)所得到测试结果对使用平面近场固有的数据采集系统进行常规天线测试所得结果进行修正，得到补偿暗室散射后的方向图数据F_θ和所述步骤(8)修正算法实现为：Δb′＝ΔB′‑mean(ΔB′)Δb″＝ΔB″‑mean(ΔB″)mean(ΔB′)表示ΔB′的矢量平均，mean(ΔB″)表示ΔB″的矢量平均，fft表示近远场变换中的傅里叶变换，F_θ′、表示使用平面近场固有的数据采集系统进行常规天线测试所得的天线方向图测试结果，f_θ′表示在平面近场测试时第一极化测试探头的两个极化分量方向图，表示在平面近场测试时第二极化测试探头的两个极化分量方向图，F_θ、表示补偿暗室散射后的两个分量的方向图数据，即所求结果。