[发明专利]一种基于巧合采样的双探头X射线检测装置

摘要

本发明公开了一种基于巧合采样的双探头X射线检测装置，包括光管底座、第一探头、第二探头、光管准直器、第一采集装置和第二采集装置；所述光管底座上安装有光管；所述光管通过光管屏蔽上盖固定在光管底座上，所述光管屏蔽上盖上开有用于容纳光管准直器的容纳槽，光管准直器固定在光管上，所述光管屏蔽上盖的顶部开有检测窗，所述容纳槽与检测窗口相连通；所述第一探头和第二探头对称布置在光管准直器的左右两侧；所述第一探头与第一采集装置相连，所述第二探头和第二采集装置相连；所述光管与第一采集装置或第二采集装置相连。本发明采用两个探头，通过运用巧合采样技术获得更宽的能谱图，消除背景干扰，使测量结果更为准确检出限更低。

主权项

1.一种基于巧合采样的双探头X射线检测装置，其特征在于，包括光管底座（7）、第一探头（3）、第二探头（4）、光管准直器（5）、第一采集装置和第二采集装置；所述光管底座（7）上安装有光管（6）；所述光管（6）通过光管屏蔽上盖（1）固定在光管底座（7）上，所述光管屏蔽上盖（1）上开有用于容纳光管准直器（5）的容纳槽，光管准直器（5）固定在光管（6）上，所述光管屏蔽上盖（1）的顶部开有检测窗，所述容纳槽与检测窗口相连通；所述第一探头（3）和第二探头（4）对称布置在光管准直器（5）的左右两侧；所述第一探头（3）与第一采集装置相连，所述第二探头（4）和第二采集装置相连；所述光管（6）与第一采集装置或第二采集装置相连。