[发明专利]测试充分性的多维度度量方法及装置有效

专利信息
申请号: 201610694490.9 申请日: 2016-08-19
公开(公告)号: CN106294174B 公开(公告)日: 2018-11-02
发明(设计)人: 吴际;鲍力;杨海燕;刘超 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 代理人: 马东伟;王涛
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种测试充分性的多维度度量方法及装置,其中方法包括:通过计算机建立测试充分性度量模型;根据所述测试充分性度量模型计算待测软件的各个度量,所述度量至少包括如下一个或多个:软件模块的代码覆盖率分布,需求流程覆盖率分布,复杂度加权代码覆盖率分布,复杂度加权测试用例数目分布,某个阶段的测试用例更新比例分布,对应某个阶段的新增失效数目分布。本发明从多视角对测试充分性进行多维度综合度量,而不是使用数值度量方法评估测试充分性,更加客观地利用测试数据信息来评估测试充分性,更加具有说服力和可解释性。
搜索关键词: 测试 充分 多维 度量 方法 装置
【主权项】:
1.一种测试充分性的多维度度量方法,其特征在于,包括:通过计算机建立测试充分性度量模型,所述测试充分性度量模型包括三个维度:代码覆盖维,模块结构加权维,测试演进维;根据所述测试充分性度量模型计算待测软件的各个度量,所述度量至少包括如下一个或多个:软件模块的代码覆盖率分布,需求流程覆盖率分布,复杂度加权代码覆盖率分布,复杂度加权测试用例数目分布,某个阶段的测试用例更新比例分布,对应某个阶段的新增失效数目分布;设待测软件为包括k个测试阶段的测试数据样本,则所述测试充分性度量模型表示如下:A(S)=<CVG(S),MD(S),EV(S)>其中,CVG(S)为代码覆盖维,MD(S)为模块结构加权维,EV(S)为测试演进维;进一步有如下定义:CVG(S)=<C_CVG(S),R_CVG(S)>MD(S)=<M_CVG(S),M_TC(S)>EV(S)=<(r_tc(S1),nfail(S1)),...,(r_tc(Sk),nfail(Sk))>其中,C_CVG(S)表示软件模块的代码覆盖率分布,R_CVG(S)为需求流程覆盖率分布,M_CVG(S)为软件模块的复杂度加权代码覆盖率分布,M_TC(S)为软件模块的复杂度加权测试用例数目分布,r_tc为软件模块某个阶段的测试用例更新比例分布,nfail为软件模块对应某个阶段的新增失效数目分布。
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