[发明专利]一种基于退化轨迹坐标重构和多元线性回归的锂电池寿命预测方法有效
申请号: | 201610656539.1 | 申请日: | 2016-08-11 |
公开(公告)号: | CN106295003B | 公开(公告)日: | 2020-02-07 |
发明(设计)人: | 刘红梅;李连峰;吕琛 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20 |
代理公司: | 11251 北京科迪生专利代理有限责任公司 | 代理人: | 杨学明;顾炜 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提出一种基于退化轨迹坐标重构和多元线性回归的锂电池寿命预测方法:首先,以一种新的采样规则对新研制电池和截断的相似电池的退化数据进行坐标重构;然后,利用重构数据建立相似电池寿命与新研制电池寿命之间的映射关系;最后,使用寿命预测模型计算新研制电池的寿命。该方法能够借助不同配方、结构或使用环境下的相似电池的全寿命退化数据预测新研制电池的寿命,可以大幅度地减少研发阶段寿命试验的试验时间和试验量,缩短新产品研发周期,降低研发阶段费用,提升企业核心竞争力。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 退化 轨迹 坐标 多元 线性 回归 锂电池 寿命 预测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于退化轨迹坐标重构和多元线性回归的锂电池寿命预测方法,其特征在于:包括:/n(1)依据新研制电池已知数据的性能退化量截断相似电池全寿命性能退化数据,获得与新研制电池等量退化的相似电池数据,应用经验模态分解方法对退化数据进行平滑,使其严格单调;/n(2)交换平滑后退化轨迹的横坐标与纵坐标,根据设定的重构采样序列,使用PCHIP插值算法计算重构轨迹数据;/n(3)以重构采样序列和所有相似电池重构后的循环序列数据为自变量,以新研制电池重构后的循环序列数据为因变量,建立失效阈值、相似电池寿命——新研制电池寿命之间的映射关系;其中,多元线性回归的目的是建立新研制电池循环数与健康指数和相似的参考电池循环数之间的映射关系,即:/n
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