[发明专利]一种恒压力并自动校正消除划痕的精密金相研磨抛光装置有效
申请号: | 201610649074.7 | 申请日: | 2016-08-10 |
公开(公告)号: | CN106217217B | 公开(公告)日: | 2018-06-01 |
发明(设计)人: | 鲁金忠;张文泉;罗开玉 | 申请(专利权)人: | 江苏大学 |
主分类号: | B24B29/02 | 分类号: | B24B29/02;B24B41/06;B24B49/00;B24B55/02;G01N1/32 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 212013 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及打磨技术与金相分析领域,特指一种可以保持恒压力磨削状态并通过改变磨削角度校正消除划痕的试用于粗磨到精磨、粗抛光到精抛光整个过程的金相研磨抛光装置。其包括有工作台、研磨机构、检测系统、自动校正系统和冷却系统。所述研磨机构包括旋转电机、联轴器与磨抛盘;所述检测系统包括压力传感器与超声波检测探头以及数据采集器;自动校正系统包括试样夹持装置、螺旋垂直移动装置、水平移动装置以及旋转机构;冷却系统通过持续水流带走磨制试样时的热量和切削介质,以免影响制样精度。本发明可以随着试样的磨削量实时调整接触压力,使试样始终处于恒压力磨削状态;且可通过旋转机构调整试样磨削角度,对称消除磨削过程中产生的划痕。 | ||
搜索关键词: | 磨削 恒压力 划痕 研磨抛光装置 自动校正系统 检测系统 冷却系统 旋转机构 研磨机构 超声波检测探头 垂直移动装置 试样夹持装置 水平移动装置 数据采集器 压力传感器 角度校正 接触压力 金相分析 实时调整 试样磨削 旋转电机 自动校正 粗抛光 精抛光 联轴器 磨抛盘 磨削量 切削 工作台 粗磨 精磨 磨制 制样 打磨 精密 对称 | ||
【主权项】:
1.一种恒压力并自动校正消除划痕的精密金相研磨抛光装置,其特征在于:所述装置包括有工作台、研磨机构、检测系统和自动校正系统;所述研磨机构包括旋转电机、联轴器与磨抛盘;旋转电机安装在工作台上,通过其上方的联轴器与磨抛盘连接,带动磨抛盘旋转;所述检测系统包括试样夹持装置处的压力传感器与磨抛盘表面处的超声波检测探头以及数据采集器,压力传感器和超声波检测探头分别与数据采集器连接,数据采集器接收压力传感器测得的试样与磨抛盘之间的接触压力以及超声波检测探头测得的金相砂纸或者抛光布磨损度;自动校正系统包括试样夹持装置、螺旋垂直移动装置、水平移动装置、旋转机构以及电机控制系统;水平移动装置包括搭载平台、滑杆、滚珠丝杠、联轴器、第一步进电机和推杆;螺旋垂直移动装置通过螺栓将第二步进电机固定在上方的滑杆上,螺旋垂直移动装置下方安装有试样夹持装置,推杆将螺旋垂直移动装置与位于搭载平台上的滚珠丝杠的移动块连接在一起;滚珠丝杠通过联轴器与第一步进电机连接;滑杆的一侧安装固定在旋转轴上;滚珠丝杠通过搭载平台与旋转轴固定在一起,旋转机构安装在旋转轴底部并位于工作台上,旋转机构由旋转齿轮与第三步进电机组成,旋转齿轮固定在旋转轴上,在第三步进电机转子头部安装齿轮,使之与旋转齿轮啮合;数据采集器与计算机处理器连接,计算机处理器与电机控制系统连接;电机控制系统与各步进电机连接,实现试样在各个方向的运动调节。
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