[发明专利]用于光固化成型过程中的实时监测和回溯系统及方法有效

专利信息
申请号: 201610638044.6 申请日: 2016-08-05
公开(公告)号: CN106273477B 公开(公告)日: 2019-03-15
发明(设计)人: 张桥舟;于清晓;刘震 申请(专利权)人: 上海联泰科技股份有限公司
主分类号: B29C64/386 分类号: B29C64/386;B33Y50/00
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 芦宁宁
地址: 201612 上海市松江区漕河泾开发*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种用于光固化成型过程中的实时监测和回溯系统及方法,实时监测和回溯系统包括:用于获取激光扫描图像的图像获取装置;参数采集系统,包括实时采集光固化成型过程中所需参数的多个采集装置,每个采集装置对应采集一种所需参数;图像与参数分析系统,分别与所述图像获取装置、所有采集装置相连,图像与参数分析系统对图像获取装置获取的激光扫描图像、参数采集系统获取的实时参数值进行存储和分析。本发明可以在做件的过程中及时发现问题,暂停做件,还可以实现零件形成后,进行做件过程的信息回溯,进行后期分析处理。
搜索关键词: 回溯 图像获取装置 光固化成型 采集装置 实时监测 参数采集系统 激光扫描图像 参数分析 图像 分析处理 实时采集 存储 采集 分析 发现
【主权项】:
1.一种用于光固化成型过程中的实时监测和回溯系统,其特征在于,所述实时监测和回溯系统包括:用于获取激光扫描图像的图像获取装置(4);参数采集系统(6),包括实时采集光固化成型过程中所需参数的多个采集装置,每个采集装置对应采集一种所需参数;所需参数主要包括:树脂的液位高度值、激光器的激光功率值、用于扫描做件的成型工作平台的高度位置、树脂温度值;图像与参数分析系统(5),分别与所述图像获取装置(4)以及参数采集系统(6)中的所有采集装置相连,所述图像与参数分析系统(5)用于对所述图像获取装置(4)获取的激光扫描图像以及所述参数采集系统(6)采集的实时参数值进行存储和分析。
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