[发明专利]一种复合绝缘子老化状态评估方法有效
| 申请号： | 201610604578.7 | 申请日： | 2016-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN106291172B | 公开（公告）日： | 2019-04-30 |
| 发明（设计）人： | 贾伯岩;刘杰;张志猛;郑雄伟;田霖;孙翠英 | 申请（专利权）人： | 国网河北省电力公司电力科学研究院;国家电网公司;河北省电力建设调整试验所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 石家庄新世纪专利商标事务所有限公司 13100 | 代理人： | 赵婧;李志民 |
| 地址： | 050021 河北省*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种复合绝缘子老化状态评估方法，通过以下步骤进行评估：（1）按照IEC62217‑2005标准实施加速老化；（2）定期进行红外线光谱分析；（3）绘制Si‑O‑Si主链集团和Si‑CH3侧链集团对应的峰面积与加速老化的转数的关系曲线；（4）两条关系曲线的下降趋势越明显，则该复合绝缘子抗老化能力较弱，老化程度越深；出现分段现象的复合绝缘子的抗老化能力优于两条关系曲线下降过程中没有出现分段现象的复合绝缘子；本发明可根据红外线光谱分析的结果对复合绝缘子的老化状态进行评估，提前更换老化程度较高的绝缘子，防止由于复合绝缘子故障引起的输电线路跳闸，保障电网的安全可靠运行。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 复合 绝缘子 老化 状态 评估 方法 | ||
【主权项】：
1.一种复合绝缘子老化状态评估方法，其特征在于：包括以下步骤，（1）对待评估的复合绝缘子按照IEC62217‑2005标准中的转轮法实施加速老化；（2）定期对步骤（1）中的复合绝缘子进行红外线光谱分析，并记录Si‑O‑Si主链集团和Si‑CH3侧链集团对应的峰面积；（3）分别绘制Si‑O‑Si主链集团和Si‑CH3侧链集团对应的峰面积与加速老化的转数的关系曲线；（4）步骤（3）绘制的两条关系曲线的下降趋势越明显，则该复合绝缘子抗老化能力较弱，老化程度越深；两条关系曲线下降过程中，出现分段现象的复合绝缘子的抗老化能力要优于两条关系曲线下降过程中没有出现分段现象的复合绝缘子，出现分段现象的复合绝缘子的老化程度要低于两条关系曲线下降过程中没有出现分段现象的复合绝缘子。
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