[发明专利]基于磁光科尔/法拉第效应的超快光学门控成像系统及方法

摘要

本发明公开一种基于磁光科尔/法拉第效应的超快门控成像系统。基于泵浦‑探测（Pump‑Probe）超快光学技术，我们采用泵浦光的偏振态来控制磁性薄膜的磁化方向，利用磁光旋转效应，实现对探测光线性偏振态旋转的控制；进一步，通过设计两束泵浦光的时间间隔以及偏振态，对磁性薄膜的磁化方向进行超快控制，实现对探测光时间窗口可调控的超快测量。这种新型磁光门控技术能选择性的对弹道光进行超快测量，可以有效实现混浊介质中的物体成像。

主权项

一种基于磁光科尔效应的超快光学门控成像系统，其特征在于：包括激光器，所述激光器产生的飞秒脉冲经分束器BS1分为反射部分Probe光和透射部分Pump光；所述Probe光经过散射介质以后被展宽，展宽的Probe光经过起偏器P3、透镜L1聚焦到位于焦平面处的磁性薄膜，Probe光经磁性薄膜反射再次经过透镜L1准直进入检偏器P4，Probe出射光经由透镜L2汇聚到CCD探测器上进行成像；所述Pump光由分束器BS2分别两束相同脉冲，分别记为Pump1和Pump2；所述Pump1依次经过偏振器P1和零级1/4波片Q1后，由透镜L1聚焦到磁性薄膜上，并与Probe光在空间上重合；所述Pump2依次经过偏振器P/2和零级1/4波片Q2后，由透镜L1聚焦到磁性薄膜上，并与Probe光在空间上重合。