[发明专利]一种用于校准模拟集成电路的方法及装置有效
| 申请号： | 201610571503.3 | 申请日： | 2016-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN106067324B | 公开（公告）日： | 2023-04-18 |
| 发明（设计）人： | 陈晓龙;林建辉;夏磊 | 申请（专利权）人： | 四川易冲科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C17/18 | 分类号： | G11C17/18 |
| 代理公司： | 北京亿腾知识产权代理事务所(普通合伙) 11309 | 代理人： | 陈霁 |
| 地址： | 610000 四川省成都市天府*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于校准模拟集成电路的方法及装置，该方法包括：根据烧写控制信号，存储模拟集成电路的校准信息；根据熔丝检测选通信号，通过检测节点输出所述校准信息以便于进行检测，检测后输出检测结果输出信号；其中，地址选择信号和读使能信号组成所述熔丝检测选通信号，所述地址选择信号和写使能信号组成所述烧写控制信号。本发明中，当需要更改存储单元位数时，只需更改存储单元阵列中的存储单元复用数目，并且在逻辑控制单元代码中增加相应的地址选择控制即可，明显地提高存储电路的设计效率以及模块的稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 校准 模拟 集成电路 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于校准模拟集成电路的装置，其特征在于，所述装置包括存储阵列单元、存储信息监测单元以及逻辑控制单元；其中，所述存储阵列单元根据烧写控制信号，存储模拟集成电路的校准信息；根据熔丝检测选通信号，通过检测节点输出存储的校准信息给所述存储信息监测单元；所述存储信息监测单元根据所述逻辑控制单元的检测使能控制信号，通过所述检测节点对所述校准信息进行检测，并输出检测结果输出信号给所述逻辑控制单元；所述逻辑控制单元通过输出地址选择信号、读使能信号、写使能信号以及检测使能控制信号，来控制所述校准信息的存储和检测；其中，所述地址选择信号和读使能信号组成所述熔丝检测选通信号，所述地址选择信号和所述写使能信号组成所述烧写控制信号，所述地址选择信号选中存储阵列单元中的一个或多个存储单元。
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