[发明专利]一种双调节外径千分尺校检装置有效
| 申请号： | 201610565943.8 | 申请日： | 2016-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN106197188B | 公开（公告）日： | 2018-10-09 |
| 发明（设计）人： | 彭涛;戚全利;吕琨琨 | 申请（专利权）人： | 安徽普源分离机械制造有限公司 |
| 主分类号： | G01B3/18 | 分类号： | G01B3/18 |
| 代理公司： | 合肥市长远专利代理事务所(普通合伙) 34119 | 代理人： | 程笃庆;黄乐瑜 |
| 地址： | 233000 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种双调节外径千分尺校检装置，包括：检测平台、第一升降托架、第二升降托架、第一副升降托架、第二副升降托架、第一千分表、第二千分表、第三千分表、第四千分表和标准量块，检测平台用于支撑，第一千分表、第二千分表相互配合用于对外径千分尺中测砧、测微螺杆进行校检；第三千分表、第四千分表相互配合用于对标准量块进行校检；标准量块用于作为外径千分尺校检的校准参照；第一升降托架、第二升降托架相互配合用于对小规格外径千分尺中的测砧、测微螺杆进行托举并带动其进行升降动作；第一副升降托架、第二副升降托架相互配合用于对大规格的外径千分尺中的测砧、测微螺杆进行托举并带动其进行升降动作。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 调节 外径 千分尺 装置 | ||
【主权项】：
1.一种双调节外径千分尺校检装置，其特征在于，包括：检测平台(1)、第一升降托架(2)、第二升降托架(3)、第一副升降托架(11)、第二副升降托架(12)、第一千分表(5)、第二千分表(6)、第三千分表(7)、第四千分表(8)和标准量块(4)，其中：第一升降托架(2)、第二升降托架(3)相对布置检测平台(1)上；第一副升降托架(11)位于第一升降托架(2)远离第二升降托架(3)的一侧并安装在检测平台(1)上；第二副升降托架(12)位于第二升降托架(3)远离第一升降托架(2)的一侧并安装在检测平台(1)上；第一千分表(5)、第二千分表(6)、第三千分表(7)和第四千分表(8)均分别包括表头和位于表头下方的测量杆；第一千分表(5)、第二千分表(6)均位于第一升降托架(2)、第二升降托架(3)之间，且第一千分表(5)、第二千分表(6)中的测量杆分别垂直于水平面；第三千分表(7)、第四千分表(8)分别位于第一升降托架(2)、第二升降托架(3)之间连线的一侧，且第三千分表(7)、第四千分表(8)中的测量杆分别垂直于第一升降托架(2)、第二升降托架(3)所在的竖直平面；标准量块(4)位于第一千分表(5)、第二千分表(6)之间。
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