[发明专利]一种隔磁片翘曲疲劳测试的试验装置在审
| 申请号： | 201610554463.1 | 申请日： | 2016-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN105928699A | 公开（公告）日： | 2016-09-07 |
| 发明（设计）人： | 钱浩;谢永诚;刘刚;王德斌;许艳涛;张东升;刘斌;韩超 | 申请（专利权）人： | 上海核工程研究设计院;上海大学 |
| 主分类号： | G01M13/00 | 分类号： | G01M13/00 |
| 代理公司： | 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 | 代理人： | 冯子玲 |
| 地址： | 200233*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种隔磁片翘曲疲劳测试的试验装置，其包括：上基座；下基座，其设置在所述上基座下方；固定环，其经配置以与所述下基座连接，用于固定隔磁片；及竖直位移限制块，其经配置以与所述上基座连接，用于限制隔磁片的位移。本发明提供的隔磁片翘曲疲劳测试的试验装置，相较现有技术无法实现隔磁片在实际工况下的破坏过程观测，其在对隔磁片破坏成因具体分析的基础上实现了隔磁片的疲劳破坏过程观测、疲劳性能测试以及隔磁片疲劳寿命预估。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 磁片 疲劳 测试 试验装置 | ||
【主权项】：
一种隔磁片翘曲疲劳测试的试验装置，其特征在于，包括：上基座；下基座，其设置在所述上基座下方；固定环，其经配置以与所述下基座连接，用于固定隔磁片；及竖直位移限制块，其经配置以与所述上基座连接，用于限制隔磁片的位移。
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