[发明专利]一种小角X射线散射的全谱拟合方法及系统在审
| 申请号： | 201610538586.6 | 申请日： | 2016-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN107590296A | 公开（公告）日： | 2018-01-16 |
| 发明（设计）人： | 朱才镇;海洋;崔可建;赵宁;徐坚 | 申请（专利权）人： | 深圳大学;中国科学院化学研究所 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京知元同创知识产权代理事务所(普通合伙)11535 | 代理人： | 刘元霞,张祖萍 |
| 地址： | 518060 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种小角X射线散射SAXS的全谱拟合方法，包括获取步骤获得分析对象的散射强度实验图谱；建模步骤根据散射强度实验图谱的特征以及分析对象的特点选择散射体的模型，从而确定散射体的散射振幅，构建散射强度计算公式；解析步骤调整所述模型中的各可调参数，使得根据所述散射强度计算公式得到的计算图谱与所述散射强度实验图谱之差最小，即可解析出所述模型的各参数；其中，所述散射体为椭球体。本发明还提出了一种小角X射线散射的全谱拟合系统。本发明为利用小角X射线散射进行有效观测材料介观尺度结构的无损检测提供了更好的数据支持。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 小角 射线 散射 拟合 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种小角X射线散射SAXS的全谱拟合方法，其特征在于，该方法包括下列步骤：获取步骤：获得分析对象的散射强度实验图谱；建模步骤：根据散射强度实验图谱的特征以及分析对象的特点选择散射体的模型，从而确定散射体的散射振幅，构建散射强度计算公式的模型；解析步骤：调整所述散射强度计算公式模型中的各可调参数，使得根据所述散射强度计算公式得到的计算图谱与所述散射强度实验图谱之差最小，即可解析出所述散射强度计算公式模型的各参数；其中，所述散射体为椭球体。
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