[发明专利]光学特性测定系统以及光学特性测定系统的校正方法有效
| 申请号： | 201610532006.2 | 申请日： | 2016-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN106338469B | 公开（公告）日： | 2020-09-01 |
| 发明（设计）人： | 大泽祥宏;水口勉;野口宗裕 | 申请（专利权）人： | 大塚电子株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种能够在较短的时间内安装并且能够提高检测灵敏度的光学特性测定系统以及光学特性测定系统的校正方法。光学特性测定系统包括第一测定装置。第一测定装置包括：第一检测元件，其配置在壳体内；第一冷却部，其至少局部与第一检测元件接合，用于冷却检测元件；以及抑制机构，其用于抑制在壳体内的检测元件的周围产生的温度变化。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 特性 测定 系统 以及 校正 方法 | ||
【主权项】：
一种光学特性测定系统，具备第一测定装置，该光学特性测定系统的特征在于，所述第一测定装置具备：第一检测元件，其配置在壳体内；第一冷却部，其至少局部与所述第一检测元件接合，用于冷却所述第一检测元件；以及抑制机构，其用于抑制在所述壳体内的所述第一检测元件的周围产生的温度变化。
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