[发明专利]射频测试系统有效
| 申请号： | 201610482046.0 | 申请日： | 2016-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN107547144B | 公开（公告）日： | 2021-09-28 |
| 发明（设计）人： | 王远;吴昊;曹进;陈国华;王继中;朱楠 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00;H04W24/06 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人： | 薛祥辉 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种射频测试系统，系统包括：高集成射频测试芯片，用于接收控制信号，根据控制信号选择待测基站的待测通道，或选择测试仪表与待测通道之间的连接关系，或选择测量时钟输出的工作模式；控制单片机，用于接收测试计算机发送的控制指令，根据控制指令生成相应的控制信号并发送给高集成射频测试芯片；测试计算机，用于向控制单片机发送控制指令；获取待测基站的误块率，配置待测基站的小区参数；测试仪表，用于接收待测通道上的射频信号，或向待测通道发送有用信号或干扰信号；待测基站，用于向高集成射频测试芯片发送射频信号，接收并解调有用信号。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种射频测试系统，其特征在于，所述系统包括：高集成射频测试芯片、控制单片机、测试计算机、测试仪表以及待测基站；其中，所述高集成射频测试芯片，用于接收控制信号，根据所述控制信号选择待测基站的待测通道，或选择所述测试仪表与所述待测通道之间的连接关系，或选择测量时钟输出的工作模式；所述控制单片机，用于接收所述测试计算机发送的控制指令，根据所述控制指令生成相应的控制信号并发送给所述高集成射频测试芯片；所述测试计算机，用于向所述控制单片机发送所述控制指令；获取所述待测基站的误块率，配置所述待测基站的小区参数；所述测试仪表，用于接收所述待测通道上的射频信号，或向所述待测通道发送有用信号或干扰信号；所述待测基站，用于向所述高集成射频测试芯片发送所述射频信号，接收并解调所述有用信号。
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