[发明专利]一种微小电容测量方法及装置有效

专利信息
申请号: 201610473844.7 申请日: 2016-06-24
公开(公告)号: CN105974203B 公开(公告)日: 2018-10-02
发明(设计)人: 夏少俊 申请(专利权)人: 武汉精测电子集团股份有限公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 430070 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种微小电容测量方法及装置,涉及信号处理领域,该微小电容测量装置包括:待测电容移相电路,用对参考基波信号V(Sin)进行移相处理和波形反相处理;信号运算处理单元,用于通过参考基波信号V(Sin)获得参数电压值AINO、AIN1;处理器,用于设置正弦波发生器DDS的输出信号频率f和获取参数电压值AINO和AIN1,然后通过该输出信号频率f和参数电压值AINO和AIN1计算出待测电容Cx的容值。本发明适用于包括电容式传感器和电容式触控面板在内的所有以微电容感应技术为基础的电子产品,相对于目前传统的微电容检测技术,本发明同时具备测量精度高、测量速度快、抗干扰能力强、能够有效抑制杂散电容等一系列优点。
搜索关键词: 一种 微小 电容 测量方法 装置
【主权项】:
1.一种微小电容测量方法,其特征在于,所述测量方法包括:步骤S1,生成参考基波信号V(Sin)、参考基波的反相信号V(‑Sin)、参考基波的移相信号V(‑Cos);步骤S2,参考基波信号V(Sin)在经过以待测电容Cx为移相电容的‑90°移相电路处理之后输出移相之后的信号VO(‑Cos),经过波形反相电路调理之后生成反相信号VO(Cos);步骤S3,生成参考信号SW1、SW2及反相信号‑SW1和‑SW2;步骤S4,信号V(Sin)、信号V(‑Sin)、参考信号SW1和参考信号‑SW1经过运算处理后输出交流信号V0;信号VO(‑Cos)、信号VO(Cos)、参考信号SW2和参考信号‑SW2经过运算处理后输出交流信号V1;步骤S5,分别将交流信号V0和交流信号V1的交流分量滤除并输出其直流分量AINO和AIN1,对直流电压AINO和直流电压AIN1采样并将其转换为数字信号;步骤S6,设置正弦波发生器DDS的输出信号频率f和获取模数转换器ADC所采集到的直流电压AINO和AIN1,对获取到的电压值AINO、AIN1和参数ω、Rg加以运算得出待测电容Cx的容值其中正弦波发生器的输出信号频率Rg为移相电路中的增益电阻,ω为正弦波信号的角速度。
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