[发明专利]显示面板、显示面板测试系统以及显示面板的测试方法

摘要

本发明公开了一种显示面板、显示面板测试系统以及显示面板的测试方法，该显示面板包括面内薄膜晶体管、像素电极层、第一和第二金属层测试端子以及像素电极层测试端子，面内薄膜晶体管包括第一和第二金属层，测试用薄膜晶体管的第一通路端与第一金属层的第一端部电连接，第二通路端与像素电极层的第一端部电连接，控制端与第二金属层的第一端部电连接，第一金属层测试端子与第一金属层的第二端部电连接，第二金属层测试端子与第二金属层的第二端部电连接，像素电极层测试端子与像素电极层的第二端部电连接，第一、第二金属层测试端子和像素电极层测试端子用于与测试设备连接。本发明能够测试估算显示面板面内薄膜晶体管的真实阻抗。

主权项

1.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括：面内薄膜晶体管和像素电极层，均位于所述显示面板内部，所述面内薄膜晶体管包括第一金属层和第二金属层；测试用薄膜晶体管，与所述面内薄膜晶体管的结构和材料相同，位于所述显示面板外部，所述测试用薄膜晶体管的第一通路端与所述第一金属层的第一端部电连接，第二通路端与所述像素电极层的第一端部电连接，控制端与所述第二金属层的第一端部电连接；第一金属层测试端子、第二金属层测试端子和像素电极层测试端子，均位于所述显示面板外部，所述第一金属层测试端子与所述第一金属层的第二端部电连接，所述第二金属层测试端子与所述第二金属层的第二端部电连接，所述像素电极层测试端子与所述像素电极层的第二端部电连接；其中，所述第一金属层测试端子、所述第二金属层测试端子和所述像素电极层测试端子用于在测试时与一测试设备连接以通过所述测试设备检测并估算所述测试用薄膜晶体管的阻抗特性。