[发明专利]基于等效黑体截面的辐射测温距离确定方法有效
| 申请号： | 201610346553.1 | 申请日： | 2016-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN106052880B | 公开（公告）日： | 2018-10-30 |
| 发明（设计）人： | 张学聪;王苗;蔡静;董磊;韩越扬 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100095*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种辐射测温距离的确定方法，属于辐射测温技术领域；该方法以黑体辐射源的轴向温度场为基础，根据黑体空腔的形状参数，结合黑体空腔壁面的材料发射率，计算得到该黑体辐射源的等效黑体截面位置，以该截面的位置作为测温距离的基准，结合辐射温度计的视场，确定辐射测温距离。与传统的以黑体辐射源底部作为测温距离基准的方法相比，对于大视场角的辐射温度计检定和校准，使用该方法确定测温距离能够在一定程度上克服黑体辐射源腔体长度大于测量距离的矛盾；对于以黑体辐射源腔口作为测温距离基准的方法相比，测温结果更为稳定可靠，不易受到各种变量如黑体辐射源温场均匀性等因素的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 等效 黑体 截面 辐射 测温 距离 确定 方法 | ||
【主权项】：
1.基于等效黑体截面的辐射测温距离确定方法，其特征在于：以黑体辐射源的轴向温度场为基础，根据黑体空腔的形状参数，结合黑体空腔壁面的材料发射率，将发射率满足大于0.99的截面视为黑体辐射源的等效黑体截面，计算得到该黑体辐射源的等效黑体截面位置，以该截面的位置作为测温距离的基准，结合辐射温度计的视场，确定辐射测温距离；等效黑体截面的直径须大于等于辐射温度计(6)的视场直径的1.25倍，此时，辐射温度计(6)与等效黑体截面(5)之间的距离即为测温距离。
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