[发明专利]一种X射线累积大剂量的试验方法及系统有效
| 申请号： | 201610343587.5 | 申请日： | 2016-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN105911075B | 公开（公告）日： | 2019-07-16 |
| 发明（设计）人： | 于龙;金利波;曹文浩 | 申请（专利权）人： | 奕瑞影像科技（太仓）有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/00 | 分类号： | G01N23/00;G01T1/00 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 唐棉棉 |
| 地址： | 215434 江苏省苏州市太*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种X射线平板探测器累积大剂量的试验方法及系统，所述试验系统至少包括：安装平台、X射线发生器、自动曝光控制器以及计算机系统；所述安装平台至少包括外框、两层平板探测器放置平台以及安装底座；所述X射线发生器包括高压发生器和球管，所述球管安装在所述安装底座上，向平板探测器发射X射线；所述自动曝光控制器与所述高压发生器相连，向所述X射线发生器发送相关曝光参数指令；所述计算机系统与所述平板探测器相连，采集并存储所述平板探测器进行曝光后的数据。本发明的试验方法用于X射线平板探测器行业，可有效的检测出平板探测器耐X射线累积大剂量能力和校正模板的有效期，大大降低了产品上市后的可靠性风险。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 累积 剂量 试验 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种X射线平板探测器累积大剂量的试验系统，其特征在于，所述试验系统至少包括：安装平台、X射线发生器、自动曝光控制器以及计算机系统；所述安装平台至少包括外框、设置在所述外框中的两层平板探测器放置平台以及设置在所述外框顶部的安装底座；所述X射线发生器包括高压发生器和与所述高压发生器相连的球管，所述球管安装在所述安装底座上，向所述平板探测器放置平台上的平板探测器发射X射线；所述自动曝光控制器与所述高压发生器相连，向所述X射线发生器发送相关曝光参数指令；所述计算机系统与所述平板探测器相连，采集并存储所述平板探测器进行曝光后的数据。
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