[发明专利]接触电阻的测量方法及其测量装置有效
申请号: | 201610316308.6 | 申请日: | 2016-05-12 |
公开(公告)号: | CN105738704B | 公开(公告)日: | 2019-03-05 |
发明(设计)人: | 闫丽;张闻斌;王琪;顾凯;陆军威 | 申请(专利权)人: | 苏州协鑫集成科技工业应用研究院有限公司;协鑫集成科技(苏州)有限公司;协鑫集成科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R27/08 | 分类号: | G01R27/08;H02S50/10 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 胡亚兰 |
地址: | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及光伏领域,具体公开了一种接触电阻的测量方法,包括如下步骤:将光生伏特体外部短路;用开尔文扫描探针以非接触式方式与光源同步逐个扫描所述光生伏特体表面的各个扫描点,并得到每个所述扫描点的光电压Vp,同时记录每个所述扫描点所对应的所述光生伏特体的外部短路电流I;按照公式Rcl=C·Vp/I,计算得到每个扫描点的接触电阻;其中,C为经验修正因子。上述接触电阻的测量方法,可实现太阳能电池的接触电阻的无损检测;同时无需对太阳能电池进行特殊的电极设计,并且能够对整个太阳能电池进行面扫描。另外该方法还适于测量异质结太阳能电池。本发明还公开了一种接触电阻的测量装置。 | ||
搜索关键词: | 接触 电阻 测量方法 及其 测量 装置 | ||
【主权项】:
1.一种接触电阻的测量方法,其特征在于,包括如下步骤:将光生伏特体外部短路;用开尔文扫描探针以非接触式方式与光源同步逐个扫描所述光生伏特体表面的各个扫描点,并得到每个所述扫描点的光电压Vp,同时记录每个所述扫描点所对应的所述光生伏特体的外部短路电流I;按照公式Rcl=C·Vp/I,计算得到每个扫描点的接触电阻;其中,C为经验修正因子;C为1.8;所述开尔文扫描探针到所述光生伏特体的表面的距离为1~1000μm;所述光源在所述扫描点处形成的光斑的直径为8~12mm。
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