[发明专利]一种脉宽调制器单粒子效应时间敏感特性分析方法

摘要

本发明涉及一种脉宽调制器单粒子效应时间敏感特性分析方法，方法包括：对样品的各功能模块进行激光脉冲的遍历式扫描并得到各功能模块的单粒子效应失效模式和单粒子效应敏感参数以及选取各功能模块的典型入射位置、使激光脉冲以一定的入射周期入射各功能模块的典型入射位置来分析获得各功能模块的单粒子效应时间敏感性信息、获取脉宽调制器的单粒子效应时间敏感特性等步骤。本发明方法在脉宽调制器功能模块划分的基础上，结合激光脉冲的可控扫描和各功能模块单粒子效应敏感参数提取来实现脉宽调制器单粒子效应时间敏感特性分析，方法新颖，是重离子单粒子效应地面模拟试验的重要补充，为较复杂数模混合电路的单粒子效应时间敏感特性研究提供支撑。

主权项

1.一种脉宽调制器单粒子效应时间敏感特性分析方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：1)对样品的整体版图进行激光脉冲的遍历式扫描，获取饱和截面σS和饱和截面所对应的激光脉冲能量ES；选取初始激光脉冲能量E0，使激光微束聚焦在样品的版图表面，对样品的整体版图进行激光脉冲的遍历式扫描，统计单粒子效应错误数N0和激光脉冲数F0，并计算出单粒子效应截面σ0；继续增大激光脉冲能量直至样品的单粒子效应截面不再增大，此时激光脉冲能量为ES，单粒子效应截面为σS；2)对步骤1)样品的各功能模块进行激光脉冲的遍历式扫描，提取各功能模块的单粒子效应敏感参数，选取各功能模块的典型入射位置；选取激光脉冲能量为ES，针对步骤1)样品的各功能模块，分别进行激光脉冲的遍历式扫描，通过定时存取示波器波形来获取每个功能模块的单粒子效应波形，分别分析每个功能模块的波形数据得到每个功能模块的单粒子效应失效模式，提取单粒子效应敏感参数，在每个功能模块所有的激光脉冲入射位置中，均选取单粒子效应敏感参数变化明显的一个位置作为典型入射位置；3)对步骤2)各功能模块的典型入射位置，让激光脉冲以不同时刻入射，获取各功能模块的单粒子效应时间敏感性信息；选取激光脉冲能量为ES，针对各功能模块的典型入射位置，让激光脉冲以一定入射周期入射，通过定时存取示波器波形来获取激光脉冲在不同时刻入射所产生的单粒子效应波形，通过波形的对比分析来获取各功能模块的单粒子效应时间敏感性信息；4)归纳总结各功能模块的单粒子效应时间敏感性信息，获取脉宽调制器的单粒子效应时间敏感特性。