[发明专利]一种用于相控阵天线现场校准的装置

摘要

本发明属于微波近场测量领域，具体涉及一种用于相控阵天线现场校准的装置，包括光学探针阵列和信号处理系统；所述光学探针阵列通过固定机架架设在相控阵天线阵面上,阵列中的每个光学探针对应一个天线单元,并精确控制各个光学探针与天线单元之间的距离及其一致性,光学探针阵列通过保偏光纤与信号处理系统相连，天线阵面的激励由信号处理系统中的激励信号源经过定向耦合器的直通端提供。光学探针阵列不含金属器件，不会影响雷达天线的近场辐射场，保证了测量的真实性；同时探针与天线单元的距离靠的很近，使其不受电磁场在地面及物体反射等产生的多路径效应以及天线单元之间存在的耦合效应等干扰的影响，保障了测试的准确性。

主权项

一种用于相控阵天线现场校准的装置，其特征在于：包括光学探针阵列和信号处理系统；所述光学探针阵列通过固定机架架设在相控阵天线阵面上,阵列中的每个光学探针对应一个天线单元,并精确控制各个光学探针与天线单元之间的距离及其一致性,光学探针阵列通过保偏光纤与信号处理系统相连；所述信号处理系统包括激光器、光环行器、光开关、光电探测器、第一混频器和第二混频器、射频信号源、锁相放大器；相控阵天线阵面的激励信号源输出分为两部分，一部分直接输送给天线阵面作为天线阵面激励信号；另一部分信号与另一混频信号源的输出信号通过第一混频器进行混频后产生中频信号输送给锁相放大器作为参考信号；自探针返回的光信号经光电转换后与混频信号源的另一输出信号经过第二混频器下变频后产生的中频信号进入到锁相放大器信号输入端，上述两个中频信号进行锁相积分放大后，便可获得天线单元近场辐射的振幅和相位信息。