[发明专利]一种荧光检测仪器的校准方法在审
| 申请号： | 201610220080.0 | 申请日： | 2016-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN105928911A | 公开（公告）日： | 2016-09-07 |
| 发明（设计）人： | 丁卫东 | 申请（专利权）人： | 深圳市华科瑞科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 深圳市神州联合知识产权代理事务所(普通合伙) 44324 | 代理人： | 邓扬 |
| 地址： | 518019 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种荧光检测仪器的校准方法,用于荧光检测仪器出厂前的校准，将荧光检测仪器的光源强度检测和信号检测模块参数校准分两步独立进行，光源强度检测适用光强测量仪测量光强度，信号检测模块参数校准使用标准光源作为检测光源；本发明采用现有的经过计量确定的标准设备进行定标，具有标准可追溯性和确定性，能适合大批量和精确测量；同时本发明方法还可用来做仪器的质控，检测光源是否会运行时间长衰减，如果光源衰减可以更换光源，本发明提高了量产中荧光检测仪器的一致性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 荧光 检测 仪器 校准 方法 | ||
【主权项】：
一种荧光检测仪器的校准方法,其特征在于：将荧光检测仪器的光源（1）强度检测，和信号检测模块（4）参数校准分两步独立进行，光源（1）强度检测使用光强测量仪（6）测量光强度，信号检测模块（4）参数校准使用标准光源（7）作为检测光源。
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