[发明专利]一种基于碳纳米管遮光罩的星敏感器的杂光测试方法

摘要

一种基于碳纳米管遮光罩的星敏感器的杂光测试方法，包括：步骤一、安装测试系统；步骤二、记录待测星敏感器(9)光轴与杂散光阑(5)入射光束垂直时待测星敏感器(9)探测器的杂光图像IMG₉₀；步骤三、改变待测星敏感器(9)和杂散光阑(5)入射光束间的夹角，测试不同角度θ_i对应的待测星敏感器(9)探测器上的杂光图像IMGN_i；步骤四、将IMGN_i与IMG₉₀相减，得到不同角度θ_i对应的图像数据IMG_i；步骤六、计算图像数据IMG_i的图像灰度数据平均值DN；步骤七、计算杂光照度E_ccd(i)：步骤八、计算获得点源透射比PST曲线。本发明解决了高吸收率碳纳米管涂层的杂光抑制能力测试问题，测试准确度高，适用于各类型光学系统的杂光抑制能力测试，通用性强。

主权项

1.一种基于碳纳米管遮光罩的星敏感器的杂光测试方法，其特征在于，包括步骤如下：步骤一、安装测试系统；测试系统包括：太阳模拟器(1)、暗室杂光入口(3)、暗室(4)、杂散光阑(5)、反光板(6)、转台(8)、待测星敏感器(9)、第一消光锥(10)、暗室杂光出口(11)、第二消光锥(13)；安装过程如下：a、将太阳模拟器(1)安装在暗室(4)外部，太阳模拟器(1)的入射光束通过暗室杂光入口(3)进入暗室(4)内部；将暗室杂光入口(3)设置在暗室(4)壁面上；b、将杂散光阑(5)安装在暗室杂光入口(3)的前方，太阳模拟器(1)的光束经杂散光阑(5)后进入待测星敏感器(9)；c、将待测星敏感器(9)安装于转台(8)上，使得待测星敏感器(9)的遮光罩入口中心位于杂散光阑(5)的入射光束中心；d、将转台(8)从俯视角度顺时针旋转90°后，将消光锥(10)安装在待测星敏感器(9)正前方，第一消光锥(10)与转台(8)同步旋转，将反光板(6)安装在待测星敏感器(9)正后方，待测星敏感器(9)和转台(8)外表面使用黑色消光绒布包覆；e、在暗室(4)壁面上、暗室杂光入口(3)对面相同高度处设置暗室杂光出口(11)，将第二消光锥(13)安装在暗室(4)外部，使得太阳模拟器(1)的出射光束进入第二消光锥(13)；步骤二、记录待测星敏感器(9)光轴与杂散光阑(5)入射光束垂直时待测星敏感器(9)探测器上的杂光图像IMG90；步骤三、改变待测星敏感器(9)和杂散光阑(5)入射光束间的夹角，测试不同角度θi对应的待测星敏感器(9)探测器上的杂光图像IMGNi；其中，i为正整数；θi的范围为20°～90°；步骤四、将不同角度θi对应的待测星敏感器(9)探测器上的杂光图像IMGNi与IMG90相减，得到不同角度θi对应的图像数据IMGi；步骤五、计算不同角度θi对应的图像数据IMGi的图像灰度数据平均值DNi；步骤六、计算不同角度θi对应的待测星敏感器(9)探测器上的杂光照度Eccd(i)：其中，h为普朗克常数，c为光速，RH为待测星敏感器(9)探测器的电子电压转换系数，s为待测星敏感器(9)探测器单像元面积，t为曝光时间，λ为杂散光阑(5)入射光束的波长，QE为待测星敏感器(9)探测器量子效率；步骤七、计算获得待测星敏感器(9)的点源透射比PST曲线：其中，Esun为太阳模拟器(1)的出射光照度。