[发明专利]一种朱墨时序断层成像检验仪在审
| 申请号： | 201610177569.4 | 申请日： | 2016-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN105606564A | 公开（公告）日： | 2016-05-25 |
| 发明（设计）人： | 秦达;张宁;王晓光;黄威;黎智辉;郝红光 | 申请（专利权）人： | 公安部物证鉴定中心 |
| 主分类号： | G01N21/359 | 分类号： | G01N21/359;G01N21/3563 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 关畅;刘美丽 |
| 地址： | 100038 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种朱墨时序断层成像检验仪，其特征在于，该成像检验仪包括一近红外光源、一分光部件、一参考臂光学器件、一样品臂光学器件、一探测器和一数据采集处理装置；所述近红外光源发出的近红外光通过所述分光部件分为参考光和样品光，所述参考光发送到所述参考臂光学器件，所述样品光经所述样品臂光学器件聚焦朱墨样品，经所述朱墨样品散射或反射的光沿原路返回与经所述参考臂光学器件出射的光发生干涉，干涉光经所述探测器发送到所述数据采集处理装置。本发明可以广泛应用于朱墨样品的识别过程中。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 朱墨 时序 断层 成像 检验 | ||
【主权项】：
一种朱墨时序断层成像检验仪，其特征在于，该成像检验仪包括一近红外光源、一分光部件、一参考臂光学器件、一样品臂光学器件、一探测器和一数据采集处理装置；所述近红外光源发出的近红外光通过所述分光部件分为参考光和样品光，所述参考光发送到所述参考臂光学器件，所述样品光经所述样品臂光学器件聚焦朱墨样品，经所述朱墨样品散射或反射的光沿原路返回与经所述参考臂光学器件出射的光发生干涉，干涉光经所述探测器发送到所述数据采集处理装置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于公安部物证鉴定中心，未经公安部物证鉴定中心许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610177569.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
