[发明专利]一种反渗透膜元件气密值的检测方法及检测仪器

摘要

本发明公开了一种反渗透膜元件气密值的检测方法及检测仪器，通过引入反渗透膜元件气密值的概念。将膜元件的气密值定义为，在特定气压值下，膜元件水袋内压力的衰减速度。衰减速度从数学上讲，就是压力的时间函数对时间的微分。通过测量气密值，来预估膜元件的脱盐率和通量，及判断被测膜元件是良品还是不良品。本发明降低了操作者的劳动强度，提高了气密性能的测量精度，而且膜元件的气密性能、产品实际性能、及两者对应关系的历史数据得到了有效积累，还可以定量地预估其实际性能。

主权项

1.一种反渗透膜元件气密值的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）、选择某型号气密性合格的反渗透膜元件，将真空设备通过阀门连接到膜元件的集水管建立真空系统，进行反复打负压试验，从而得到某一打压停止值P1下膜元件水袋内压力对时间的函数曲线，并根据曲线走向将上述曲线分为持续爬升阶段、急剧衰减阶段以及正常衰减区域三个阶段；（2）、在正常衰减区域选择某一压力值作为反渗透膜元件气密值的检测压力值p₀，并且进一步确定该压力值下的膜元件水袋内压力的标准气密值a₀；所述气密值定义为：在特定气压值下，膜元件水袋内压力的衰减速度，其数学表达式为：；（3）、将真空设备通过阀门连接待检测膜元件的集水管建立真空系统，然后进行抽真空操作至压力达到打压停止值P1；（4）、关闭真空设备的阀门进入保压状态；（5）、当真空系统的真空度降低至检测压力值p0时，测得该压力值 p0 下膜元件水袋内压力的实际气密值a1；并将实际气密值a1与标准气密值a0相比较，若实际气密值a1大于标准气密值a0，则该膜元件气密性不合格，反之则合格。