[发明专利]基于FPGA-TDC的电阻测量系统及方法有效

专利信息
申请号: 201610164019.9 申请日: 2016-03-22
公开(公告)号: CN105842539B 公开(公告)日: 2018-08-21
发明(设计)人: 张敏;王海;胡丰;刘岩;赵伟;秦红波 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 韦全生;王品华
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提出了一种基于FPGA‑TDC的电阻测量系统及方法,用于解决现有电阻测量系统及方法中存在测量精度及分辨率低的技术问题,该系统包括:依次连接的参考电压产生模块(1)、电阻‑时间转换模块(2)和FPGA‑TDC测量模块(3),及微小电容差测量模块(4);参考电压产生模块(1)包括由FPGA芯片、DAC芯片和仪用运算放大器芯片组成的参考电压产生电路,电阻‑时间转换模块(2)包括两个不同的子模块,FPGA‑TDC测量模块(3)搭建在FPGA芯片内部,微小电容差测量模块(4)包括由FPGA芯片和微小电容差测量芯片组成的微小电容差测量电路。本发明具有测量精度高和分辨率高的特点,可用于高分辨率的电阻测量领域。
搜索关键词: 基于 fpga tdc 电阻 测量 系统 方法
【主权项】:
1.一种基于FPGA‑TDC的电阻测量系统,包括依次相连的电阻‑时间转换模块(2)和FPGA‑TDC测量模块(3),所述电阻‑时间转换模块(2)用于将待测电阻值转换成时间间隔信号;所述FPGA‑TDC测量模块(3)用于测量所述时间间隔信号的大小;其特征在于:所述电阻‑时间转换模块(2)包括第一电阻‑时间转换模块(21)和第二电阻‑时间转换模块(22),用于产生两路时间间隔信号,其中第一电阻‑时间转换模块(21)由依次连接的第一放电电路和双比较器电路组成,第二电阻‑时间转换模块(22)由依次连接的第二放电电路和双比较器电路组成,且第一电阻‑时间转换模块(21)中的双比较器电路和第二电阻‑时间转换模块(22)中的双比较器电路相同;在所述电阻‑时间转换模块(2)的前端连接有参考电压产生模块(1),该参考电压产生模块(1)包括由FPGA芯片、DAC芯片和仪用运算放大器芯片组成的参考电压产生电路,用于产生两个参考电压;所述FPGA‑TDC测量模块(3)搭建在FPGA芯片内部;所述电阻测量系统还包括微小电容差测量模块(4),该模块包括由FPGA芯片和微小电容差测量芯片组成的微小电容差测量电路,用于测量两个微小电容的容值差。
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