[发明专利]使用高分辨率透射电子显微镜图像的晶粒分析方法和系统有效
| 申请号： | 201610135002.0 | 申请日： | 2016-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN105976349B | 公开（公告）日： | 2020-10-27 |
| 发明（设计）人： | 朴民哲;金大新;金赛彬;金世珍;夏志良;李济铉 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06K9/00 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 郭鸿禧;王兆赓 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种使用高分辨率透射电子显微镜(HRTEM)图像的晶粒分析方法和系统。所述方法涉及分析纳米晶粒，包括：接收HRTEM图像，针对HRTEM图像设置每个具有预定大小的局部窗口，对通过局部窗口确定的像素数据执行至少一次快速傅里叶变换以计算局部转换数据，基于局部转换数据分析晶粒。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 高分辨率 透射 电子显微镜 图像 晶粒 分析 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种分析纳米级晶粒的方法，所述方法包括：接收高分辨率透射电子显微镜(HRTEM)图像；针对高分辨率透射电子显微镜图像设置局部窗口以定义像素数据；对像素数据执行至少一次快速傅里叶变换(FFT)以计算局部转换数据；基于局部变换数据分析晶粒。
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