[发明专利]用于光学装置的杂物去除盖子有效
申请号: | 201610117896.0 | 申请日: | 2016-03-02 |
公开(公告)号: | CN105938225B | 公开(公告)日: | 2018-02-16 |
发明(设计)人: | D.D.厄尔德曼;凌涛 | 申请(专利权)人: | 泰科电子公司 |
主分类号: | G02B6/38 | 分类号: | G02B6/38 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人: | 葛青 |
地址: | 美国宾夕*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 杂物去除盖子包括具有接收空腔且布置在接收空腔中的内表面的盖子本体。盖子本体构造成附接到光学装置,以便光学装置的配合面布置在接收空腔中。内表面构造成面向光学装置的配合面。杂物去除盖子另外包括透镜擦拭器,该透镜擦拭器联接到接收空腔内的内表面并且背离内表面朝向光学装置配合面延伸。透镜擦拭器在由杂物去除盖子用户激活时相对于配合面移动。透镜擦拭器在由用户激活时接合配合面的透镜,以从透镜去除杂物。 | ||
搜索关键词: | 用于 光学 装置 杂物 去除 盖子 | ||
【主权项】:
一种杂物去除盖子,包括:盖子本体,所述盖子本体具有接收空腔、和布置在所述接收空腔中的覆盖表面,所述盖子本体构造成附接到光学装置,使得所述光学装置的配合面布置在所述接收空腔中,所述覆盖表面构造成面向所述光学装置的配合面;和透镜擦拭器,所述透镜擦拭器联接到所述盖子本体、并且被定位在所述接收空腔内,所述透镜擦拭器背离所述覆盖表面、朝向所述光学装置的配合面延伸,所述透镜擦拭器在被所述杂物去除盖子的用户激活时相对于所述配合面移动,所述透镜擦拭器在由用户激活时接合所述光学装置内的所述配合面的透镜以将杂物从所述透镜去除,所述透镜擦拭器在接合所述配合面的所述透镜时伸入到所述光学装置中。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于泰科电子公司,未经泰科电子公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610117896.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光学成像系统
- 下一篇:一种电力仪表测试电路