[发明专利]一种测试通讯接口规范的方法及装置

摘要

本发明公开了一种测试通讯接口规范的方法及装置，包括：利用Bert测试对测试板卡进行实际验证，得到测试板卡的误码率，并根据测试板卡的误码率将测试板卡分为成功样本和失败样本；利用仿真软件对成功样本和失败样本的通道分别建模并仿真，得到成功样本和失败样本的S参数；分析成功样本和失败样本的S参数，得到成功样本和失败样本的插动损耗的概率密度分布状况和回波损耗的概率密度分布状况；利用时域模型对成功样本和失败样本的S参数进行时域仿真并分析，得到成功样本和失败样本的眼高概率密度分布状况和眼宽概率密度分布状况。可见，在本实施例中通过利用仿真和量测相结合的方式来定义通讯接口规范。

主权项

1.一种测试通讯接口规范的方法，其特征在于，包括：利用Bert测试对测试板卡进行实际验证，得到测试板卡的误码率，并根据所述测试板卡的误码率将所述测试板卡分为成功样本和失败样本；利用仿真软件对所述成功样本和所述失败样本的通道分别建模并仿真，得到所述成功样本的第一S参数和所述失败样本的第二S参数；分析所述第一S参数，得到所述成功样本的第一插动损耗的概率密度分布状况和第一回波损耗的概率密度分布状况；分析所述第二S参数，得到所述失败样本的第二插动损耗的概率密度分布状况和第二回波损耗的概率密度分布状况；其中，成功样本的第一插动损耗的概率密度分布状况和第一回波损耗的概率密度分布状况为成功样本的频域规范；失败样本的第二插动损耗的概率密度分布状况和第二回波损耗的概率密度分布状况为失败样本的频域规范；利用时域模型对所述第一S参数进行时域仿真并分析，得到所述成功样本的第一眼高概率密度分布状况和第一眼宽概率密度分布状况；利用时域模型对所述第二S参数进行时域仿真并分析，得到所述失败样本的第二眼高概率密度分布状况和第二眼宽概率密度分布状况；其中，成功样本的第一眼高概率密度分布状况和第一眼宽概率密度分布状况为成功样本的时域规范；失败样本的第二眼高概率密度分布状况和第二眼宽概率密度分布状况为失败样本的时域规范。