[发明专利]校准OLED显示面板亮度不均的方法有效

专利信息
申请号: 201610088157.3 申请日: 2016-02-16
公开(公告)号: CN105575326B 公开(公告)日: 2018-11-23
发明(设计)人: 邓宇帆 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: G09G3/3208 分类号: G09G3/3208
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 魏毅宏
地址: 518006 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种校准OLED显示面板亮度不均的方法,该方法包括:获取OLED显示面板在至少三个灰阶下的亮度矩阵;根据亮度矩阵确定亮度均匀区域和亮度不均匀区域;测量亮度均匀区域的实测Gamma曲线,根据亮度矩阵计算亮度不均匀区域中各个像素点在至少三个灰阶对应的拟合Gamma值;根据实测Gamma曲线、拟合Gamma值分别拟合得到亮度不均匀区域中每一像素点的拟合Gamma曲线;根据每一像素点的拟合Gamma曲线对亮度不均匀区域进行亮度校准。通过上述方式,本发明能够提高校准亮度不均的精度以及提高校准的效率。
搜索关键词: 校准 oled 显示 面板 亮度 不均 方法
【主权项】:
1.一种校准OLED显示面板亮度不均的方法,其特征在于,所述方法包括:获取OLED显示面板在至少三个灰阶下的亮度矩阵;根据所述亮度矩阵确定亮度均匀区域和亮度不均匀区域;测量所述亮度均匀区域的实测Gamma曲线,根据所述亮度矩阵计算所述亮度不均匀区域中各个像素点在所述至少三个灰阶对应的拟合Gamma值;根据所述实测Gamma曲线、所述拟合Gamma值分别拟合得到所述亮度不均匀区域中每一像素点的拟合Gamma曲线;根据所述每一像素点的所述拟合Gamma曲线对所述亮度不均匀区域进行亮度校准。
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