[发明专利]原子荧光光谱法高含铜样品中痕量砷的测定在审
| 申请号： | 201610075009.8 | 申请日： | 2016-02-03 |
| 公开（公告）号： | CN105548125A | 公开（公告）日： | 2016-05-04 |
| 发明（设计）人： | 宋薇;李梅;伍伟超;韦英 | 申请（专利权）人： | 吉林省谱尼测试科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 130012 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明公开了原子荧光光谱法对高含铜样品中痕量砷的测定方法，属于分析检测领域。其特征包括以下步骤：经过消解后的样品溶液先用碘化钾将溶液中的铜还原为碘化亚铜，并以碘化亚铜的形式沉淀下来。然后加入硫氰酸盐，将溶液中游离的亚铜离子以稳定性更高、溶解度更低的硫氰化亚铜的形式沉淀下来，过滤定容后测定样品溶液中的砷，回算出样品中的砷含量。本发明方法能有效避免样品溶液中的铜与实验中需要用到的硫脲和硼氢化钾反应生成沉淀。该方法简单可靠，准确度高，重现性好。 | ||
| 搜索关键词： | 原子 荧光 光谱 法高含铜 样品 痕量 测定 | ||
【主权项】：
原子荧光法高含铜样品中痕量砷的测定，其特征在于用以下方式排除样品中铜的干扰：(1)先用碘化钾把样品溶液中的Cu(II)还原为Cu(I)，并以碘化亚铜形式沉淀下来；![]()
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(2)再加入硫氰酸盐把样品溶液中游离的亚铜离子，以硫氰化亚铜的形式沉淀下来；![]()
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