[发明专利]测试校准包括数字接口的多入多出天线阵列的系统和方法有效
| 申请号： | 201610074228.4 | 申请日： | 2016-02-02 |
| 公开（公告）号： | CN107026695B | 公开（公告）日： | 2021-06-01 |
| 发明（设计）人： | 孔宏伟;朱文;景雅;左豫;陈少波 | 申请（专利权）人： | 是德科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/12 | 分类号： | H04B17/12 |
| 代理公司： | 北京坤瑞律师事务所 11494 | 代理人： | 封新琴 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种测试系统，其包括：测试腔室，其包括：空间间隔探针天线的阵列；以及定位器，其配置为支撑具有数字天线元件的阵列的待测试设备(DUT)；射频(RF)信号发生器和分析器，其配置为将RF测试信号发送到/接收自空间间隔探针天线；以及RF切换器组件，其配置为有选择地将RF信号发生器和分析器耦合到测试腔室内的空间间隔探针天线的阵列。一种数字测试仪器，其包括：至少一个数字信号发生器和分析器，其配置为在发射机测试模式下生成去往DUT的数字天线元件的数字测试信号，并且在接收机测试模式下分析来自DUT的数字天线元件的接收到的数字测试信号，所述可编程硬件设备，其配置为实现用于所生成的接收到的数字测试信号的自定义数字光纤接口协议，以及数字光纤接口，其配置为将可编程硬件设备耦合到DUT的数字天线元件的阵列，并且收发去往/来自DUT的数字天线元件的阵列的数字测试信号。同步模块配置为对RF信号发生器和分析器以及数字测试仪器进行同步。测试控制器配置为在DUT的测试期间控制定位器、RF信号发生器和分析器、RF切换器组件、数字测试仪器的操作。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 校准 包括 数字 接口 多入多出 天线 阵列 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种测试系统，其包括：测试腔室，其包括：空间间隔探针天线的阵列；以及定位器，其配置为支撑具有数字天线元件的阵列的待测试设备(DUT)；射频(RF)信号发生器和分析器，其配置为将RF测试信号发送到空间间隔探针天线以及从空间间隔探针天线接收RF测试信号；RF切换器组件，其配置为将所述RF信号发生器和分析器有选择地耦合到所述测试腔室内的空间间隔探针天线的阵列；数字测试仪器，其包括：至少一个数字信号发生器和分析器，其配置为在发射机测试模式下生成去往DUT的数字天线元件的数字测试信号，并且在接收机测试模式下分析从DUT的数字天线元件接收到的数字测试信号，可编程硬件设备，其配置为实现用于所生成的接收到的数字测试信号的自定义数字光纤接口协议，以及数字光纤接口，其配置为将可编程硬件设备耦合到DUT的数字天线元件的阵列，并且收发去往/来自DUT的数字天线元件的阵列的数字测试信号；同步模块，其配置为对RF信号发生器和分析器以及数字测试仪器进行同步；以及测试控制器，其配置为在DUT的测试期间控制定位器、RF信号发生器和分析器、RF切换器组件、数字测试仪器的操作。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于是德科技股份有限公司，未经是德科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610074228.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：磁砖(1)
- 下一篇：具有双天线模式的NFC天线的认证测试方法
