[发明专利]水位测量方法及装置、容器有效
申请号: | 201610045724.7 | 申请日: | 2016-01-22 |
公开(公告)号: | CN105526992B | 公开(公告)日: | 2019-07-23 |
发明(设计)人: | 王毅;刘东旭;白茹 | 申请(专利权)人: | 北京小米移动软件有限公司;北京智米科技有限公司 |
主分类号: | G01F23/292 | 分类号: | G01F23/292 |
代理公司: | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人: | 林祥 |
地址: | 100085 北京市海淀区清河*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本公开是关于水位测量方法及装置、终端,所述方法包括:获取目标光折射位置,所述目标光折射位置是探测光以目标入射角从第一介质到第二介质折射后折射光在预设水平面上的位置,所述第一介质和第二介质中一种介质为空气、另一种介质为待测液体;根据已知光折射位置、所述目标光折射位置、所述目标入射角和目标折射角确定所述待测液体的目标水位差,所述已知光折射位置是在已知水位下探测光以目标入射角从第一介质到第二介质折射后折射光在预设水平面上的位置,所述目标折射角是折射后的折射角。本公开通过目标光折射位置、已知光折射位置、目标入射角和目标折射角之间的关系确定目标水位差,实现测量待测液体的水位差,测量方式容易,效率高。 | ||
搜索关键词: | 水位 测量方法 装置 容器 | ||
【主权项】:
1.一种水位测量方法,其特征在于,所述方法包括:获取目标光折射位置,所述目标光折射位置是探测光以目标入射角从第一介质到第二介质折射后折射光在预设水平面上的位置,所述第一介质和第二介质中一种介质为空气、另一种介质为待测液体;根据已知光折射位置、所述目标光折射位置、所述目标入射角和目标折射角确定所述待测液体的目标水位差,所述已知光折射位置是在已知水位下探测光以目标入射角从第一介质到第二介质折射后折射光在预设水平面上的位置,所述目标折射角是探测光以目标入射角从第一介质到第二介质折射后的折射角,其中,目标水位差与光折射位移差成正比,所述光折射位移差为目标光折射位置与已知光折射位置的位移差。
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