[发明专利]光波长检测器及使用方法有效
| 申请号： | 201610042563.6 | 申请日： | 2016-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN106996832B | 公开（公告）日： | 2019-09-27 |
| 发明（设计）人： | 张凌;吴扬;姜开利;刘长洪;王佳平;范守善 | 申请（专利权）人： | 清华大学;鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01J9/00 | 分类号： | G01J9/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100084 北京市海淀区清*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光波长检测器，其包括：一探测元件，所述探测元件用于接收待测光一测量装置，所述测量装置与所述探测元件电连接；其中，所述探测元件包括一碳纳米管结构，该碳纳米管结构包括多个碳纳米管沿同一方向延伸；所述光波长检测器进一步包括一偏振片，所述偏振片用于将待测光起偏为偏振光后入射到碳纳米管结构的部分表面，所述测量装置用于测量由于偏振光的照射在所述碳纳米管结构中产生的温度差或电势差，该偏振片与所述碳纳米管结构可相对旋转，从而改变偏振光的方向与所述碳纳米管的延伸方向之间的夹角角度，通过比较不同夹角时测量得到的温度差或电势差获得所述待测光的波长值。本发明还涉及一种光波长检测器的使用方法。 | ||
| 搜索关键词： | 波长 检测器 使用方法 | ||
【主权项】：
1.一种光波长检测器，其包括：一探测元件，所述探测元件用于接收待测光；一测量装置，所述测量装置与所述探测元件电连接；其特征在于，所述探测元件包括一碳纳米管层，该碳纳米管层包括多个碳纳米管沿同一方向延伸；所述光波长检测器进一步包括一偏振片，所述偏振片用于将待测光起偏为偏振光后入射到碳纳米管层的部分表面，所述测量装置用于测量由于偏振光的照射在所述碳纳米管层中产生的温度差或电势差，该偏振片与所述碳纳米管层可相对旋转，从而改变偏振光的方向与所述碳纳米管的延伸方向之间的夹角角度，通过比较不同夹角时测量得到的温度差或电势差获得所述待测光的波长值。
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