[发明专利]特定光波长的传感器有效

专利信息
申请号: 201610042562.1 申请日: 2016-01-22
公开(公告)号: CN106996831B 公开(公告)日: 2020-02-07
发明(设计)人: 张凌;邓磊;吴扬;姜开利;王佳平;范守善 申请(专利权)人: 清华大学;鸿富锦精密工业(深圳)有限公司
主分类号: G01J9/00 分类号: G01J9/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100084 北京市海淀区清*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种用于识别特定波长的传感器,包括:一光波长分析器,用于接收入射的光线信号,对该光线信号进行分析处理,并根据处理结果发送工作指令;一存储器;以及一调制器;其中,所述光波长分析器包括一光波长检测器和一信号处理模组,该光波长检测器包括一探测元件,一测量装置;所述探测元件包括一碳纳米管结构,该碳纳米管结构包括多个碳纳米管沿同一方向延伸,所述光线信号入射至该碳纳米管结构的部分表面,所述测量装置用于测量所述碳纳米管结构的电势差或温度差;所述信号处理模组与光波长检测器电连接,用于对该测量装置的测量值进行分析计算,并将计算得到的信号数据与存储器中初始信号数据作对比,并根据对比结果发送工作指令。
搜索关键词: 特定 波长 传感器
【主权项】:
1.一种用于识别特定波长的传感器,其包括:/n一光波长分析器,用于接收入射的光线信号,所述光线信号为非偏振光,对该光线信号进行分析处理,并根据处理结果发送工作指令;/n一存储器,用于存储光线信号数据,以提供初始信号数据作为标准数据;以及/n一调制器,用于向存储器中写入标准数据;/n其特征在于,所述光波长分析器包括一光波长检测器和一信号处理模组,该光波长检测器包括一探测元件,一测量装置;所述探测元件包括一碳纳米管层,该碳纳米管层包括多个碳纳米管沿同一方向延伸,所述光线信号入射至该碳纳米管层的部分表面,所述测量装置用于测量所述碳纳米管层的电势差或温度差;所述信号处理模组与光波长检测器电连接,用于对该测量装置的测量值进行分析计算,并将计算得到的信号数据与存储器中初始信号数据作对比,并根据对比结果发送工作指令,进一步包括一预处理器,用于将入射至光波长分析器前的光线信号起偏为偏振光,所述预处理器与所述碳纳米管层分别在两个相互平行的平面内相对旋转,以调节偏振光的方向与碳纳米管的延伸方向的夹角角度。/n
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