[发明专利]一种基于水泥基材料中石膏矿物的XRD定量分析方法

摘要

本发明属于检测分析技术领域，具体涉及一种基于水泥基材料中石膏矿物的XRD定量分析方法，该定量分析方法是通过以下步骤实现的：样品粉磨，加入复配的溶剂制备悬浊液，通过自制的样品架进行制样，利用XRD射线衍射仪进行定量分析检测，应用本发明所述的制样方法，可以有效的降低水泥体系样品石膏矿物的择优取向程度，减小X射线衍射图谱强度偏差，获得理想的适于Rietveld精修定量的X射线衍射图谱，较正压法和背压法等制样方法可以得到更为准确的石膏矿物定量结果，本发明提供的制样方法简单，可操作性强。

主权项

1.一种基于水泥基材料中石膏矿物的XRD定量分析方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）将待测水泥粉磨至4‑8μm制成水泥粉末样品；（2）称取3‑6g水泥粉末样品，加入溶剂，搅拌后制备成悬浊液；（3）将悬浊液倒入自制的样品架中的凹槽处，烘干处理后再次倒入悬浊液，连续操作直至样品高度距凹槽的顶端0.5‑1.5mm；所述样品架是由镂空样品架（1），Kapton薄膜（2），载玻片（3）及样品夹（4）组成；所述Kapton薄膜（2）的一面同镂空样品架（1）紧密贴合，另一面同载玻片（3）贴合，利用样品夹（4）沿镂空样品架长度方向将三者固定，打开样品夹的尾柄弹簧钢丝卡即可；（4）另取水泥粉末样品3‑6g，置于200目筛中，过筛处理，使样品颗粒填满整个凹槽，擦除落入凹槽外的颗粒；（5）用一块面积大于样品架凹槽的胶带平覆于样品架的上端凹槽处；（6）拆除样品夹并翻转样品架，小心移除载玻片，制备完成待测样品，利用X射线衍射仪进行定量分析检测。