[发明专利]用于内部缺陷检测的检测电路及系统在审
| 申请号： | 201610035782.1 | 申请日： | 2016-01-20 |
| 公开（公告）号： | CN106990163A | 公开（公告）日： | 2017-07-28 |
| 发明（设计）人： | 石桂芬;何永辉;吴首民;梁爽;杨水山;彭铁根;宗德祥 | 申请（专利权）人： | 宝山钢铁股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/83 | 分类号： | G01N27/83 |
| 代理公司： | 上海集信知识产权代理有限公司31254 | 代理人： | 肖祎 |
| 地址： | 201900 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于内部缺陷检测的检测电路及其系统，该电路包括传感器、减法电路、低通滤波电路、放大器、高通滤波电路，传感器包括补偿线圈。传感器的信号传输至减法电路，减法电路的输出信号传输至低通滤波电路，低通滤波电路的输出信号经过放大器放大之后，反向输入至补偿线圈，形成负反馈电路。之后，传感器的信号传输至高通滤波电路，滤波后得到缺陷信号。本发明可以实现在基于漏磁原理的内部缺陷检测设备中，对传感器获得的磁信号进行低频和高频噪声过滤，大大提升信噪比，实现对漏磁信号的精确采集和提取，以便准确检测到内部缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 内部 缺陷 检测 电路 系统 | ||
【主权项】：
一种用于内部缺陷检测的检测电路，其特征在于，包括：传感器、减法电路、低通滤波电路、第一信号放大器、高通滤波电路；所述传感器包括补偿线圈；所述传感器的信号传输至所述减法电路，所述减法电路的输出信号传输至所述低通滤波电路，所述低通滤波电路的输出信号经过第一信号放大器放大之后，反向输入至所述补偿线圈，形成负反馈电路；之后，所述传感器的信号传输至所述高通滤波电路，滤波后得到缺陷信号。
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