[发明专利]一种全霍伊斯勒合金表面半金属性制备工艺在审
申请号: | 201610020295.8 | 申请日: | 2016-01-13 |
公开(公告)号: | CN105648536A | 公开(公告)日: | 2016-06-08 |
发明(设计)人: | 韩红培;赵正印 | 申请(专利权)人: | 许昌学院 |
主分类号: | C30B29/52 | 分类号: | C30B29/52;H01F10/32 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 461000 河南省*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | 本发明提供了一种全霍伊斯勒合金表面半金属性制备工艺,包括以下步骤:第一步:构建表面结构;第二步:对上述四种表面进行结构优化;在优化的过程中,为了尽可能的接近实际,允许外面前5层的原子位置弛豫,其他原子位置固定;第三步:计算优化后的表面结构的态密度、磁矩、表面能等物理量;第四步:分析表面结构的态密度、磁矩、自旋极化及稳定性;第五步:通过对第四步中图形和表格分析和比较,获得具有100%自旋极化且结构稳定的半金属表面薄膜。 | ||
搜索关键词: | 一种 全霍伊斯勒 合金 表面 金属性 制备 工艺 | ||
【主权项】:
一种全霍伊斯勒合金表面半金属性制备工艺,其特征在于,包括以下步骤:第一步:构建表面结构;构建了Co2VGa(111)方向的四种表面结构,对此4种表面,我们分别取25、25、23和23个原子层并且厚度为
的真空对称性地加在薄膜的两端以避免相邻薄膜层的相互作用;第二步:对上述四种表面进行结构优化;在优化的过程中,为了尽可能的接近实际,允许外面前5层的原子位置弛豫,其他原子位置固定;第三步:计算优化后的表面结构的态密度、磁矩、表面能等物理量;对态密度和磁矩的计算,主要包括表面层、次表面层、中心层原子的总态密度和d电子的分态密度及磁矩;另外,根据表面能的定义,分别计算出此四种表面的表面能大小并加以比较;第四步:分析表面结构的态密度、磁矩、自旋极化及稳定性;对态密度及稳定性的分析,我们利用图示法,而对磁矩和自旋极化的分析,利用列表比较的工艺;第五步:通过对第四步中图形和表格分析和比较,获得具有100%自旋极化且结构稳定的半金属表面薄膜。
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