[发明专利]一种近红外漫反射自动校正探头有效

专利信息
申请号: 201610012042.6 申请日: 2016-01-05
公开(公告)号: CN105606562B 公开(公告)日: 2018-08-24
发明(设计)人: 王琦;吴跃进;刘晶;刘斌美;余立祥;林晏清;范爽;徐琢频 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: G01N21/359 分类号: G01N21/359
代理公司: 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 代理人: 张景云
地址: 230000 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明提供的一种近红外漫反射自动校正探头,包括光学系统、校正系统;光学系统包括光源、光谱收集器;光源发出近红外光照射在校正系统上;样品处于校正系统的下方且处于光源的正下方;校正系统分为光谱校正区域和样品光谱采集区域;光谱校正区域包括标准白板校正区域、暗背景校正区域;光谱收集器收集校正系统采集的光谱;暗背景校正区域垂直设有挡板。本发明提供一种能够自动校正漫反射光谱的探头,实现近红外漫反射光谱的自动校正;该发明采用全封闭结构,消除了外界环境对探头的影响,提高了采集光谱信号的稳定性;能够同时实现对多个光学系统进行校正,不仅提高了光谱信号的强度,而且能够提高样品的测量精度。
搜索关键词: 一种 红外 漫反射 自动 校正 探头
【主权项】:
1.一种近红外漫反射自动校正探头,其特征在于:所述校正探头包括至少一套光学系统以及与所述光学系统数量匹配的校正系统;所述光学系统包括光源、光谱收集器;所述光源发出近红外光经准直垂直照射在所述校正系统上;样品处于所述校正系统的下方且处于所述光源的正下方;所述校正系统分为光谱校正区域和样品光谱采集区域;所述光谱校正区域包括标准白板校正区域、暗背景校正区域;所述标准白板校正区域、暗背景校正区域、样品光谱采集区域依次经过所述光源下方;所述光谱收集器处于所述校正系统的上方用以收集所述校正系统采集的光谱;所述暗背景校正区域垂直设有挡板;当所述暗背景校正区域处于所述光源下方时,所述挡板挡在所述光谱收集器与所述光源之间;所述校正探头还包括动力机构;所述动力机构具有转轴;所述标准白板校正区域、暗背景校正区域、样品光谱采集区域依次水平连接并固定在所述转轴上;所述动力机构带动所述标准白板校正区域、暗背景校正区域、样品光谱采集区域以所述转轴为圆心转动;所述动力机构为步进电机;所述校正探头还包括封闭盒体;所述光学系统、校正系统、步进电机处于所述盒体内;所述盒体的下盖处于所述光源正下方的位置设有透光窗片;所述样品处于所述透光窗片正下方;所述光源、光谱收集器、步进电机固定在所述盒体的上盖内壁;所述转轴向下延伸;所述步进电机固定在所述上盖的中间位置;所述标准白板校正区域、暗背景校正区域、样品光谱采集区域依次连接形成扇形校正系统;所述扇形校正系统的圆心位置垂直设有连接通孔;所述步进电机的转轴固定在所述连接通孔内,在所述步进电机的驱动下,所述转轴带动所述扇形校正系统以所述转轴为圆心转动。
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