[发明专利]反充碳和温度落入式传感器有效
| 申请号： | 201580074204.2 | 申请日： | 2015-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN107209066B | 公开（公告）日： | 2019-08-30 |
| 发明（设计）人： | 保罗·A·特纳;哈利·G·小克劳斯 | 申请（专利权）人： | 贺利氏电子耐特国际股份公司 |
| 主分类号： | G01K7/02 | 分类号： | G01K7/02;G01N1/12;G01N33/20;B22D2/00 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 张凯;周林蓉 |
| 地址： | 比利时*** | 国省代码： | 比利时;BE |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 一种用于通过熔融金属的样品的热分析确定相位改变的落入式探头包含测量头部，所述测量头部具有为浸入端的第一端和具有端面的相对的第二端。样品室被布置在所述测量头部内。不含任何限制且与所述样品室连通的开口在所述测量头部的所述第二端的所述端面中形成。所述样品室包含第一热电偶，所述第一热电偶具有密封在具有均匀的内部几何结构的壁内的第一热电偶接合部。所述样品室的内径D与延伸于所述开口和所述第一热电偶接合部之间的长度H的比率D/H在0.1和1.2之间。 | ||
| 搜索关键词： | 测量头部 样品室 热电偶接合部 热电偶 开口 内部几何结构 浸入 熔融金属 第一端 热分析 传感器 探头 反充 连通 密封 延伸 | ||
【主权项】：
1.一种落入式探头，其用于通过熔融金属的样品的热分析确定相位改变，所述落入式探头包括：测量头部，其包含为浸入端的第一端和具有端面的相对的第二端；以及样品室，其被布置在所述测量头部内，与所述样品室连通的开口在所述测量头部的所述第二端的所述端面中形成，所述开口不含任何限制，所述样品室包含第一热电偶，所述第一热电偶具有密封在壁内的第一热电偶接合部，所述壁具有均匀的内部几何结构，其中，所述样品室的内径D与延伸于所述开口和所述第一热电偶接合部之间的长度H的比率D/H在0.1和1.2之间。
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