[发明专利]用于扫描器头的间隙和位移磁性传感器系统有效
申请号: | 201580059695.3 | 申请日: | 2015-10-30 |
公开(公告)号: | CN107250713B | 公开(公告)日: | 2019-08-13 |
发明(设计)人: | R.E.贝塞尔特 | 申请(专利权)人: | 霍尼韦尔有限公司 |
主分类号: | G01B7/14 | 分类号: | G01B7/14;B65H26/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李雪娜;张涛 |
地址: | 加拿大*** | 国省代码: | 加拿大;CA |
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摘要: | 一种用于造纸机或其它系统中的扫描器头的间隙和位移磁性传感器系统包括多传感器组件(414b)。多传感器组件包括多个磁场取向传感器(514x‑514z),所述多个磁场取向传感器被配置成捕获磁场(550 552)的测量结果以便标识(i)第一扫描传感器头和第二扫描传感器头在第一方向(X方向)上的位移以及(ii)第一扫描传感器头(410a)和第二扫描传感器头(410b)在第二方向(Z方向)上的间隙间隔,以及(iii)第一扫描传感器头和第二扫描传感器头在第三方向(Y方向)上的位移。磁场取向传感器中的至少一个(514z)被布置成从磁场的中心线(552)偏移,使得来自至少一个磁场取向传感器的输出指示间隙间隔和第一方向或第三方向上的位移的组合。 | ||
搜索关键词: | 用于 造纸 其它 系统 中的 扫描器 间隙 位移 磁性 传感器 | ||
【主权项】:
1.一种用于维持针对扫描传感器头的三个主方向上的头对头对准的方法,包括:生成磁场(550、552);通过多个磁场取向传感器(514x‑514z)通过以下步骤来捕获(910)磁场的测量:通过第一磁场取向传感器(514x)测量参照参考场角度的第一方向上的磁场的场角度,其中第一磁场取向传感器被布置成与其中第一磁场取向传感器感测参考场角度的磁场的中心线(552)大体对准,通过第二磁场取向传感器(514z)测量由第一方向和第二方向定义的平面(716)中的磁场的场角度,其中第二磁场取向传感器被布置成从磁场的中心线偏移,使得来自第一磁场取向传感器和第二磁场取向传感器中的至少一个的输出测量间隙间隔和第一方向上的位移的组合,其中第一方向是横向方向,第二方向是头对头间隙方向,并且第一方向和第二方向彼此正交;使用磁场的测量标识(915)(i)第一扫描传感器头(414a)和第二扫描传感器头(414b)在第一方向上的位移以及(ii)第一扫描传感器头和第二扫描传感器头在第二方向上的间隙间隔。
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